[发明专利]自动产生测试脚本的测试系统及其方法无效

专利信息
申请号: 201310153448.2 申请日: 2013-04-27
公开(公告)号: CN104122494A 公开(公告)日: 2014-10-29
发明(设计)人: 赵书梅 申请(专利权)人: 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/02;G01R27/02;G01R27/26;G01R31/26
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 许志勇
地址: 201114 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 自动 产生 测试 脚本 系统 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种自动产生测试脚本的测试方法,应用于一生产线,其特征在于,该测试方法至少包含下列步骤:

提供一待测物体的一规格文件;

依据该规格文件分析该待测物体以产生一测试脚本及相对应的一测试数据;

发布该测试脚本及该测试数据;及

依据该测试脚本及该测试数据于该生产线上测试该待测物体。

2.如权利要求1项所述的自动产生测试脚本的测试方法,其特征在于,该测试方法于发布该测试脚本及该测试数据的步骤前,更包含连接该待测物体并执行该测试脚本以产生一测试结果,及计算该测试结果与该规格文件中的特定数据的一比值的步骤。

3.如权利要求2项所述的自动产生测试脚本的测试方法,其特征在于,该测试方法于计算该测试结果与该规格文件中的特定数据的该比值的步骤后,更包含依据该比值修改该测试数据及/或修改该测试脚本的步骤。

4.如权利要求1项所述的自动产生测试脚本的测试方法,其特征在于,依据该规格文件分析该待测物体以产生该测试脚本及相对应的该测试数据的步骤为依据该规格文件对该待测物体进行功能分析及集成电路板分析,并依据分析结果产生该测试脚本,其中,集成电路板分析更包含开路分析、短路分析、串并联分析、及/或元件分析。

5.一种自动产生测试脚本的测试系统,应用于一生产线,其特征在于,该测试系统至少包含:

一文件读取模块,用以读取预先储存的一待测物体的一规格文件;

一测试数据产生模块,用以依据该规格文件分析该待测物体以产生一测试脚本及相对应的一测试数据;及

一测试数据发布模块,用以发布该测试脚本及该测试数据,使该生产线依据该测试脚本及该测试数据测试该待测物体。

6.如权利要求5项所述的自动产生测试脚本的测试系统,其特征在于,该测试系统更包含一结果处理模块,用以于执行测试脚本并产生一测试结果后,计算该测试结果与该规格文件中的特定数据的一比值。

7.如权利要求6项所述的自动产生测试脚本的测试系统,其特征在于,该结果处理模块更用以依据该比值修改该测试数据及/或修改该测试脚本。

8.如权利要求5项所述的自动产生测试脚本的测试系统,其特征在于,该测试数据产生模块是依据该规格文件对该待测物体进行功能分析及集成电路分析,并依据分析结果产生该测试脚本,其中,集成电路分析更包含开路分析、短路分析、串并联分析、及/或元件分析。

9.如权利要求5项所述的自动产生测试脚本的测试系统,其特征在于,该测试脚本包含开短路测试单元、电阻测试单元、电容测试单元、电感测试单元、二极管测试单元、三极管测试单元。

10.如权利要求9项所述的自动产生测试脚本的测试系统,其特征在于,该测试脚本中的该些测试单元是通过指令控制至少一终端装置以完成该待测物体的测试。

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