[发明专利]IC测试分类存储装置

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路分装技术领域，特别是一种IC测试分类存储装置。 

背景技术

IC集成块生产后要经过检测，淘汰次品后按等级分类，现有技术中的检测和分类过程都是半自动化完成。 

中国专利“变距式IC分类机”（申请号：200810129316.5）公开了一种滑轨式IC分类装置，通过线性马达配合横向滑轨和IC吸嘴，实现连续对IC进行分类，IC吸嘴可以通过调整机构调节，适用于不同尺寸的IC。但是这种IC分类机结构复杂，安装调试不方便。使用滑轨的方式很难实现高速分类，而且其检测机构不能跟分类机构集成，工作效率低下。 

发明内容

本发明的目的是为了解决上述技术问题，提供一种IC测试分类存储装置，以期实现对IC的高速测试和分类。 

本发明采取的技术方案是： 

一种IC测试分类存储装置，包括IC检测单元、IC料盘单元，其特征是，还包括第一IC输送单元、转盘单元、旋转作业单元、第二IC输送单元，所述IC料盘单元包括待检料盘存放位、待放料盘存放位，所述转盘单元设置在所述待检料盘存放位的前端，所述第一IC输送单元位于所述转盘单元和所述待检料盘存放位之间，用于将待检料盘中的IC输送至所述转盘单元，所述旋转作业单元位于所述转盘单元的一侧，所述旋转作业单元包括至少一个转臂，所述转臂循环能够转动定位至所述转盘单元上方、所述IC检测单元上方和所述第二输送单元上方，依次实现吸取IC、检测IC和暂存IC，所述第二IC输送单元将检测完成的IC根据其检测结果分别放置于不同的待放料盘上。

进一步，所述料盘单元还包括第一料盘区、第二料盘区、待检料盘输入机构、空盘输送机构、成品料盘输出机构，所述第一料盘区用于存放待检料盘，所述第二料盘区用于存放待放料盘，所述待检料盘输入机构将所述待检料盘传送至所述待检料盘存放位，所述空盘输送机构将取完IC的待检空料盘传送至所述待放料盘存放位，所述成品料盘输出机构将第二料盘区的成品料盘输出。 

进一步，所述转盘单元的圆周上均布8至16个IC存放槽，每个IC存放槽内可放置4至8个IC。 

进一步，所述旋转作业单元包括4至8个转臂，每个转臂上设有吸取部件，所述吸取部件一次同时能实现4至8个IC的吸放。 

进一步，所述旋转作业单元的转臂还可定位于一个丢弃废品的位置，在所述丢弃废品的位置下方设有废料箱。 

进一步，所述第二IC输送单元包括IC暂存机构和IC输送机构，所述IC暂存机构将检测过的IC存储至一定数量后由所述IC输送机构将成品IC输送至成品料盘。 

进一步，所述待检料盘存放位为多个，均设置于所述第一料盘区；所述待放料盘存放位为多个，均设置于第二料盘区。 

进一步，所述第一IC输送单元包括吸取部件，所述吸取部件通过传送机构将待检料盘上IC的吸取放置于所述转盘单元，所述吸取部件一次同时能实现4至8个IC的吸放。 

进一步，所述IC暂存机构包括IC存放槽、电机和传动丝杆，所述电机驱动所述丝杆将所述IC存放槽移至暂存区。 

进一步，所述IC存放槽的一侧设置压缩弹簧，另一侧设置气缸，通过所述气缸和压缩弹簧对所述IC存放槽进行定位，在所述气缸侧，还设置一个限位调节千分尺。 

本发明的有益效果是： 

转盘单元和旋转作业单元通过伺服电机可以实现高速测试和高速分类；

通过IC暂存机构的结构，使本装置实现不同尺寸的IC的检测和分类存放。

附图说明

附图1是本发明的结构示意图； 

附图2是暂存机构的立体结构示意图；

附图3是暂存台的立体结构示意图。

图中的标号分别为： 

1．IC料盘单元；                                      11．待检料盘存放位；

12．待放料盘存放位；                             13．待检料盘；

14．待放料盘；                                         15．第一料盘区；

16．第二料盘区；                                    17．待检料盘输入机构；

18．空盘输送机构；                                 2．第一IC输送单元；