[发明专利]一种发光二极管的外延片及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310156773.4 申请日: 2013-04-28
公开(公告)号: CN103236480A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 万林;魏世祯 申请(专利权)人: 华灿光电股份有限公司
主分类号: H01L33/14 分类号: H01L33/14;H01L33/12;H01L33/04;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 430223 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 发光二极管 外延 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种发光二极管的外延片,所述外延片包括衬底、以及依次层叠在所述衬底上的缓冲层、不掺杂的GaN层、n型层、多量子阱层和p型层,其特征在于,所述外延片还包括设于所述n型层与所述多量子阱层之间的电流扩展层,所述电流扩展层为超晶格结构,所述超晶格结构由第一子层和第二子层交替层叠而成,所述第一子层和所述第二子层由AlxGa1-xN制成,相邻的所述第一子层和所述第二子层中的Al的组分含量不同,其中,0<x<1。

2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,各个所述第一子层中的Al的组分含量相同,各个所述第二子层的Al的组分含量也相同。

3.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,各个所述第一子层的Al的组分含量不同,各个所述第二子层的Al的组分含量相同。

4.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,各个所述第一子层的Al的组分含量不同,各个所述第二子层的Al的组分含量不同。

5.根据权利要求1~4任一项所述的外延片,其特征在于,所述电流扩展层中各层的所述Al的最高组分含量为20%~60%。

6.根据权利要求1-4任一项所述的外延片,其特征在于,所述第一子层的厚度为1~10nm,所述第二子层的厚度为1~10nm。

7.根据权利要求1-4任一项所述的外延片,其特征在于,所述第一子层的厚度和所述第二子层的厚度相同。

8.一种发光二极管的外延片的制造方法,其特征在于,所述方法包括:

提供衬底,并依次在所述衬底上生长缓冲层、不掺杂的GaN层和n型层;

在所述n型层上生长电流扩展层,所述电流扩展层为超晶格结构,所述超晶格结构由第一子层和第二子层交替层叠而成,所述第一子层和所述第二子层由AlxGa1-xN制成,相邻的所述第一子层和所述第二子层中的Al的组分含量不同,其中,0<x<1;

在所述电流扩展层上依次生长多量子阱层和p型层。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华灿光电股份有限公司,未经华灿光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310156773.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top