[发明专利]一种发光二极管的外延片及其制造方法有效
申请号: | 201310156773.4 | 申请日: | 2013-04-28 |
公开(公告)号: | CN103236480A | 公开(公告)日: | 2013-08-07 |
发明(设计)人: | 万林;魏世祯 | 申请(专利权)人: | 华灿光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14;H01L33/12;H01L33/04;H01L33/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 430223 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 发光二极管 外延 及其 制造 方法 | ||
1.一种发光二极管的外延片,所述外延片包括衬底、以及依次层叠在所述衬底上的缓冲层、不掺杂的GaN层、n型层、多量子阱层和p型层,其特征在于,所述外延片还包括设于所述n型层与所述多量子阱层之间的电流扩展层,所述电流扩展层为超晶格结构,所述超晶格结构由第一子层和第二子层交替层叠而成,所述第一子层和所述第二子层由AlxGa1-xN制成,相邻的所述第一子层和所述第二子层中的Al的组分含量不同,其中,0<x<1。
2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,各个所述第一子层中的Al的组分含量相同,各个所述第二子层的Al的组分含量也相同。
3.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,各个所述第一子层的Al的组分含量不同,各个所述第二子层的Al的组分含量相同。
4.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,各个所述第一子层的Al的组分含量不同,各个所述第二子层的Al的组分含量不同。
5.根据权利要求1~4任一项所述的外延片,其特征在于,所述电流扩展层中各层的所述Al的最高组分含量为20%~60%。
6.根据权利要求1-4任一项所述的外延片,其特征在于,所述第一子层的厚度为1~10nm,所述第二子层的厚度为1~10nm。
7.根据权利要求1-4任一项所述的外延片,其特征在于,所述第一子层的厚度和所述第二子层的厚度相同。
8.一种发光二极管的外延片的制造方法,其特征在于,所述方法包括:
提供衬底,并依次在所述衬底上生长缓冲层、不掺杂的GaN层和n型层;
在所述n型层上生长电流扩展层,所述电流扩展层为超晶格结构,所述超晶格结构由第一子层和第二子层交替层叠而成,所述第一子层和所述第二子层由AlxGa1-xN制成,相邻的所述第一子层和所述第二子层中的Al的组分含量不同,其中,0<x<1;
在所述电流扩展层上依次生长多量子阱层和p型层。
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