[发明专利]数据转换方法和数据转换设备

说明书

技术领域

本文中讨论的实施方式涉及数据转换。

背景技术

被称为ECC（Error Check and Correct，错误检查与纠正）的技术是用于降低半导体存储器的出错率的传统方法，该半导体存储器例如为NAND型闪存。在ECC技术中，当向半导体存储器写入数据时，存储器控制器向数据中添加纠错码，借此在读数据时通过纠错码纠正错误。

相关的现有技术例如包括这样一种技术：当向闪存中写入数据时对该数据编码，编码后的数据中特定数值的数量减少到小于编码前的特定数值的数量，然后，将编码后的数据写入闪存的存储单元。另一种相关技术中，使用与第一数据格式相关的统计值将信息从第一数据格式的信息转换成为第二数据格式的信息，并且将该信息与标识符一起存储到存储器，该标识符标识向第二数据格式进行转换所使用的转换值。

又一种相关技术中，将数据写入随机存取存储器，将数据转换成具有规定值的比特的数量大于或等于规定数量的数据，转换后的数据被输出到随机存取存储器。再一种相关技术中，在通过重新排列突发传输中的写入数据而创建的n种写入数据中选择下面的写入数据并将所选择的写入数据在突发传输中的顺序编码在冗余比特中：在突发传输中将该写入数据写入存储器时所发生的数据转换少于进行重新排列之前的数据转换。

作为上述传统技术的例子，参看公开号为2010-528380和2005-537551的PCT申请的公开的日语译文，和已披露的公开号为2002-366419和2008-059449的日本专利。

当半导体存储器具有微加工制造结构或者多值配置时，半导体存储器的出错率增加。结果，使用传统技术例如ECC进行纠错变得困难。例如，半导体存储器更高的出错率导致在ECC中使用的纠错码的比特数量的增加，因而导致存储器控制器的电路规模的增加和半导体存储器需要更大的存储器容量。

发明内容

本发明实施方式的一个方面的目的是至少解决上述传统技术中的问题。

根据实施方式的一个方面，由计算机执行的数据转换方法包括：对于特定数量比特的比特串能够呈现的一组比特模式中的在一组数据段中出现的每一种比特模式，对所述一组数据段内具有所述比特模式的数据段的数量进行计数，所述一组数据段是通过按照所述特定数量的比特分割正写入存储介质的写入数据而创建的，所述存储介质具有这样的特性：在所述存储介质内存储的两种比特值中，第一种值的比特错误发生率高于第二种值的比特错误发生率；将按照所述计数得到的计数结果的降序从所述一组比特模式中选择的作为转换源模式的比特模式，分别与按照比特模式中包含的第二种值的数量的降序从所述一组比特模式中选择的作为转换目标模式的比特模式相关联起来；以及，对于每一种转换源比特模式，将所述一组数据段中包含的具有所述转换源比特模式的数据段转换成为具有与所述转换源比特模式相关联的转换目标比特模式的转换后的数据段。

根据本发明的一个方面，实现了降低存储介质的出错率的效果。

附图说明

图1是根据第一实施方式的数据转换方法的例子的示意图；

图2是第二实施方式的数据转换方法的例子的示意图；

图3是存储装置300的硬件配置的例子的框图；

图4是计数规则400的例子的示意图；

图5是计数器表500的内容的例子的示意图；

图6是转换表600的内容的例子的示意图；

图7是NAND控制器302的功能配置的例子的框图；

图8是页格式的例子的示意图；

图9A和图9B是制作转换表600的例子的示意图；

图10和图11是NAND控制302的写过程的例子的流程图；以及

图12是NAND控制器302的读取过程的例子的流程图。

具体实施方式

将参照附图说明本发明的优选的实施方式。

图1是根据第一实施方式的数据转换方法的例子的示意图。在图1中，数据转换设备101是计算机，其具有转换向存储介质110写入的数据的功能。例如，数据转换设备101为存储器控制器或SSD（solid state drive，固态驱动器），其控制对存储介质110的数据的写和读。

存储介质110具有一种特性：在存储介质110内存储的两种类型的比特值中，一种值的比特错误发生率高于另一种值的比特错误发生率。存储介质110例如是半导体存储器，例如NAND型闪存。