[发明专利]等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法有效
| 申请号： | 201310161200.0 | 申请日： | 2013-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN103219209A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 郑理;李涛;王鹏年;雷鸣;段冰;顾尚林;陈小军 | 申请（专利权）人： | 四川虹欧显示器件有限公司 |
| 主分类号： | H01J9/00 | 分类号： | H01J9/00 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 邓世燕 |
| 地址： | 621000 四川省绵阳市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 等离子 显示屏 制造 过程 参数 确定 优化 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法，其特征在于：包括如下步骤：
步骤一、在待处理数据上对不同的参数取值进行屏产品等级关联，并计算出各参数取值下对应屏产品的不同等级出现的次数；
步骤二、确定与各参数取值关联性最大的屏等级；
步骤三、将与屏等级的自信度区间关联性最大的参数取值作为优化的参数取值。
2.根据权利要求1所述的等离子显示屏制造过程参数取值的确定与优化方法，其特征在于：步骤二所述的确定与各参数取值关联性最大的屏等级的方法为：
（1）按如下公式计算自信度：
式中p为均值，α为期望的良率，N表示总共样本数量，acc表示在观测到的样本上的良率，Zα/2表示在当前良率acc的条件下，以当前良率分布为基准的概率下限，Z1-α/2表示在当前良率acc的条件下，以当前良率分布为基准的概率上限；
（2）按如下公式计算自信度区间：
（3）确定与各参数取值关联性最大的屏等级：
判断自信度区间的下限是否大于等于事先设定的阈值，如果是，则确定该自信度区间对应的设备的屏等级为与各参数取值关联性最大的屏等级。
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