[发明专利]等离子显示屏制造过程中参数值分布特性的快速量化方法

权利要求书

1.一种等离子显示屏制造过程中参数值分布特性的快速量化方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤一、输入数据源及统计指标；

步骤二、计算机对输入的数据源及统计指标进行判断：

（1）当数据源为单个数据集时，则进入步骤三；

（2）当数据源为两个数据集时，则进入步骤五；

步骤三、根据工序以及时间对数据源进行划分；按工序以及时间求出最大值、最小值、均值、方差、偏度、峰度，并据此制作数据分布图；然后继续判断是否具有统计指标：如果否，则返回步骤二；如果是，则进入步骤四；

步骤四、将各结果按统计指标进行排序，并将排序所得的前K个属性进行显示和保存；然后返回步骤二；

步骤五、对需要进行对比的两个数据集合作分类标注，然后合并两个类别的数据，得到一个具有两种类型标注的数据集合；再在数据集合上进行重要特征抽取；

步骤六、根据工序以及时间对数据源进行划分；按工序以及时间在重要参数集合上计算出最大值、最小值、均值、方差、偏度、峰度，并据此制作数据分布图；然后继续判断是否具有统计指标：如果否，则将数据分布图在对照表单中进行显示并保存，然后返回步骤二；如果是，则进入步骤七；

步骤七、将各结果按统计指标进行排序，并将排序所得的前K个属性在对照表单中进行显示并保存，然后返回步骤二。

2.根据权利要求1所述的等离子显示屏制造过程中参数值分布特性的快速量化方法，其特征在于：所述重要特征抽取方法为：

（1）对输入数据集合进行缺失值处理和归一化处理；

（2）筛选出能最大化包括信息增益、增益比、最小化冗余度和最大化相关度在内的三组重要特征的参数列表；

（3）对三组重要特征的参数列表进行整合，得到一组统一的重要参数列表，其中包括了在三组重要特征列表中出现在至少两组重要特征中的参数。

3.根据权利要求2所述的等离子显示屏制造过程中参数值分布特性的快速量化方法，其特征在于：所述缺失值处理是指：对于缺失值，按照其它等离子屏的相同参数的观测值的平均值进行填充。

4.根据权利要求2所述的等离子显示屏制造过程中参数值分布特性的快速量化方法，其特征在于：所述归一化处理是指：将各参数在不同等离子屏上的观测值统一到0均值和单位方差这个区间内并同时保证最初不同屏上该观测值的相对大小不变。