[发明专利]USB插拔寿命测试治具

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种测试治具，具体涉及一种USB插拔寿命测试治具。

【背景技术】

目前针对一些电子产品USB接口寿命的测试，通常是将USB接口及USB插头固定在插拔测试机上进行插拔测试，其中USB插拔寿命测试的一般规格为1500cycle、2000cycle、或2500cycle等。在进行一定规格的插拔测试后，将USB接口及USB插头从插拔测试机上取下，并用万用表测试其接触是否导通。然而，利用这种测试方式通常是达到一定的测试规格后才用万用表测试其通断情况及检查摩擦变形等情况，从而不能及时观察到USB接口和USB插头接触的通断情况，同时也无法计算出USB插拔测试的寿命。

有鉴于此，实有必要提供一种USB插拔寿命测试治具以解决上述问题。

【发明内容】

因此，本发明提供一种USB插拔寿命测试治具,以解决上述插拔测试需达到一定测试规格才能检测出USB接口和USB插头接触的通断情况，同时无法计算出USB插拔测试寿命的问题。

为了达到上述目的，本发明提供的USB插拔寿命测试治具，所述USB包括USB接口及用以对所述USB接口进行重复插拔测试的USB插头，所述USB接口与所述USB插头的一端皆具有若干信号引脚，所述USB接口的另一端与所述USB插头的另一端连接，所述USB插拔寿命测试治具包括：

至少一第一直流电源，其一极接所述USB接口或USB插头的若干信号引脚；

若干晶体管，其栅极分别对应接所述第一直流电源的另一极，所述晶体管的源极分别相对所述第一直流电源的一极接USB插头或USB接口的若干信号引脚，以使所述USB形成回路；

至少一第二直流电源，其一极分别对应接所述晶体管的漏极，所述第二直流电源的另一极分别对应接所述晶体管的源极；

若干显示单元，其分别串接于所述晶体管与所述第二直流电源中。

可选的，所述第一直流电源电压为3V，所述第二直流电源电压为12V。

可选的，所述第一直流电源的一极为负极，所述第二直流电源的一极为正极。

可选的，所述晶体管为N-MOS管。

可选的，所述显示单元以不同发光显示来分别对应所述若干信号引脚。

可选的，所述显示单元为灯泡，所述灯泡的功率为10W。

可选的，所述USB为USB2.0或USB3.0。

相较于现有技术，本发明USB插拔寿命测试治具可根据在插拔测试时，灯泡不再闪亮的时刻及寿命的测试周期计算出USB插拔的寿命；同时可时时观察到灯泡的亮灭，如果有灯泡不亮则可以判断USB已出现故障，既而可停止寿命测试无需再等到一个测试周期才能判断，从而大量的节省了时间及提高了工作效率。

【附图说明】

图1绘示为本发明USB插拔寿命测试治具一较佳实施例的结构示意图。

【具体实施方式】

请参阅图1绘示，于本实施例中，为了达到上述目的，本发明提供的USB插拔寿命测试治具，所述USB包括USB接口100及用以对所述USB接口进行重复插拔测试的USB插头200，其中，所述USB为USB2.0，所述USB接口100与所述USB插头200的一端皆具有四个信号引脚，所述USB接口100的另一端与所述USB插头200的另一端连接，所述USB插拔寿命测试治具包括：

四个第一直流电源300，其一极接所述USB接口100或USB插头200的若干信号引脚；

四个晶体管400，其栅极分别对应接所述第一直流电源300的另一极，所述晶体管400的源极分别相对所述第一直流电源300的一极接USB插头200或USB接口100的若干信号引脚，以使所述USB形成回路；

四个第二直流电源500，其一极分别对应接所述晶体管400的漏极，所述第二直流电源500的另一极分别对应接所述晶体管400的源极；

四个显示单元600，其分别串接于所述晶体管400与所述第二直流电源500中。

其中，所述第一直流电源300电压为3V，所述第二直流电源500电压为12V。

其中，所述第一直流电源300的一极为负极，所述第二直流电源500的一极为正极。

其中，所述晶体管400为N-MOS管。

其中，所述显示单元600以不同发光显示来分别对应所述四个信号引脚。

其中，所述显示单元600为灯泡，所述灯泡的功率为10W。