[发明专利]一种采用磁控溅射镀膜的电子器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201310165490.6 申请日: 2013-05-07
公开(公告)号: CN103266303A 公开(公告)日: 2013-08-28
发明(设计)人: 邓波 申请(专利权)人: 苏州奕光薄膜科技有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/14;H01P1/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 采用 磁控溅射 镀膜 电子器件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种电子器件,包含至少一个需要进行镀膜的表面,其特征在于其镀膜采用磁控溅射来实现。

2.根据权利要求1所述的电子器件,其特征在于所述的电子器件为滤波器或双工器。

3.根据权利要求1所述的电子器件,其特征在于所述的电子器件为无源射频和微波滤波器或双工器。

4.根据权利要求1所述的电子器件,其特征在于所述的磁控溅射所镀的膜为铜膜和银膜。

5.根据权利要求4所述的电子器件,其特征在于所述磁控溅射所镀的膜为铜膜和银膜外还镀有一层CuMo合金膜。

6.根据权利要求5所述的电子器件,其特征在于所述CuMo合金的组成比例为Cu∶Mo=4∶1。

7.根据权利要求5所述的电子器件,其特征在于所述CuMo合金膜的厚度为10~100nm。

8.根据权利要求5所述的电子器件,其特征在于所述CuMo合金膜的厚度为50nm。

9.根据权利要求8所述的磁控溅射镀膜方法,其特征在于包含以下步骤:

(1)将清洁的基体放入真空容器中、抽真空到10-4Pa:

(2)通入高纯氩气至0.5Pa并进行高能氩离子清洗;

(3)溅射金属铜至需要的厚度、溅射金属银至需要的厚度、溅射CuMo合金膜至50nm厚度。

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