[发明专利]用于显示器的基板及显示面板有效
申请号: | 201310168422.5 | 申请日: | 2013-05-09 |
公开(公告)号: | CN103258478A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 彭少朋;林佳丽 | 申请(专利权)人: | 友达光电(厦门)有限公司;友达光电股份有限公司 |
主分类号: | G09F9/30 | 分类号: | G09F9/30 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 361102 福建省厦门市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 显示器 显示 面板 | ||
技术领域
本发明是有关于一种用于显示器的基板以及一种显示面板。
背景技术
显示器由多个像素所构成,每个像素由数个次像素所组成,因此次像素可视为显示器的最小的显示单位。随着显示器的解析度增加,显示器必然包含更多数量的次像素。在制造显示器的过程中,可能因环境、设备、材料等变异造成某些次像素失效而无法正常显示,为了有效地提升显示器的生产合格率,有必要分析造成次像素失效的原因。为了分析次像素失效的原因,通常必须对显示器进行破坏性的切割剖片,然后再对失效的次像素进行详尽的分析研究。但是,很多失效的次像素只有在显示器点亮时才能被观察到;当对显示器进行剖片后,显示器不可能被点亮,而导致无从得知究竟哪一个次像素是失效的次像素。因此,目前亟需一种改良的技术方案,来解决上述问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于显示器的基板及显示面板。
本发明的一方面是提供一种应用于显示器的基板,以能够清楚地辨识基板上的失效次像素。此基板包含至少一次像素群,次像素群包含多个次像素,各个次像素具有一识别特征,次像素群中每一个次像素及其邻接的数个次像素的识别特征的排列方式各异,借此能够区别次像素群中的每一个次像素。
在一实施方式中,这些识别特征区分为数个群组,所述数个群组中的同一个群组的识别特征相同,所述数个群组中的不同群组的识别特征不同。
在一实施方式中,次像素群的这些次像素形成一阵列,且此阵列的每一行的各次像素的所述识别特征属于所述数个群组中的不同群组。
在一实施方式中,次像素群的这些次像素形成一阵列,且所述数个群组包含一第一群组、一第二群组、一第三群组、一第四群组以及一第五群组,且此阵列的每一行包含第一群组中的一个识别特征、第二群组中的一个识别特征、第三群组中的一个识别特征、第四群组中的一个识别特征以及第五群组中的一个识别特征。
在一实施方式中,此阵列为5×5阵列,且第一群组包含5个第一识别特征,第二群组包含5个第二识别特征,第三群组包含5个第三识别特征,第四群组包含5个第四识别特征,第五群组包含5个第五识别特征,其中此5×5阵列的每一行包含一个第一识别特征,一个第二识别特征、一个第三识别特征、一个第四识别特征以及一个第五识别特征。
在一实施方式中,此5×5阵列的每一行中的第一识别特征、第二识别特征、第三识别特征、第四识别特征以及第五识别特征的排列顺序不同。
在一实施方式中,此像素群的这些次像素形成一阵列,且所述数个群组包含一第一群组、一第二群组、一第三群组、一第四群组、一第五群组以及一第六群组,且此阵列的每一行包含第一群组中的一个识别特征、第二群组中的一个识别特征、第三群组中的一个识别特征、第四群组中的一个识别特征、第五群组中的一个识别特征以及第六群组中的一个识别特征。
在一实施方式中,此阵列为一6×6阵列,且第一群组包含6个第一识别特征,第二群组包含6个第二识别特征,第三群组包含6个第三识别特征,第四群组包含6个第四识别特征,第五群组包含6个第五识别特征,第六群组包含6个第六识别特征,其中此6×6阵列的每一行包含一个第一识别特征,一个第二识别特征、一个第三识别特征、一个第四识别特征、一个第五识别特征以及一个第六识别特征。
在一实施方式中,此6×6阵列的每一行中的第一识别特征、第二识别特征、第三识别特征、第四识别特征、第五识别特征以及第六识别特征的排列顺序不同。
在一实施方式中,所述的基板包含多个所述次像素群,且这些次像素群规则性地排列在此基板上。
在一实施方式中,各次像素具有一栅极线,各次像素的识别特征形成在各自的栅极线上。
在一实施方式中,各次像素具有一栅极,各次像素的识别特征形成在各自的栅极上。
本发明的另一方面是提供一种显示面板,此显示面板包含任一上述的基板、一对向基材以及一显示介质。对向基材与基板相对设置。显示介质配置在基板与对向基材之间。
在一实施方式中,对向基材包含一遮光层,且此遮光层在此基板的垂直投影与这些识别特征重叠。
附图说明
图1A绘示本发明一比较例的显示器的上视示意图;
图1B绘示本发明一实施方式的的基板10的上视示意图;
图2绘示本发明一实施方式的识别特征的上视示意图;
图3绘示本发明另一实施方式的识别特征的上视示意图;
图4绘示本发明在一实施方式的识别特征的上视示意图;
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