[发明专利]用于清洁线锯的线的装置和方法无效

专利信息
申请号: 201310170827.2 申请日: 2013-05-10
公开(公告)号: CN103963182A 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: J·E·朴;R·叙埃尔迪亚 申请(专利权)人: 应用材料瑞士有限责任公司
主分类号: B28D7/02 分类号: B28D7/02
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 用于 清洁 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种用于清洁适合于锯切半导体工件(130)的线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),所述装置包括:

包含第一开口(115)的容器(110),其中所述容器(110)由疏松固体颗粒(111)填充,并且经调适以使得所述线(150)能够通过所述第一开口(115)并通过所述疏松固体颗粒(111)。

2.如权利要求1所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述疏松固体颗粒(111)是从以下材料列表中选择的颗粒:沙、陶瓷、硅、金属、塑料或上述颗粒的任何组合。

3.如权利要求1或2所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述疏松固体颗粒(111)具有1μm至10mm的直径。

4.如权利要求1或2所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述疏松固体颗粒(111)具有1μm至8mm的直径。

5.如权利要求1或2所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述装置进一步包含清洗液供应系统(112)。

6.如权利要求5所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述容器(110)包含适合于允许来自所述清洗液供应系统(112)的清洗液(113)进入所述容器(110)的第二开口(116)。

7.如权利要求1或2所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述装置进一步包含一个或更多个用于给所述疏松固体颗粒(111)充电和充磁的装置(320)。

8.如权利要求1或2所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述容器(110)是可移动的。

9.一种用于切割半导体工件(130)的线锯布置(1000),包括:

包含适合于锯切半导体工件(130)的线(150)的线锯,以及

如权利要求1或2所述的用于清洁所述线锯的所述线(150)的装置(100、300、400、500、700)。

10.如权利要求9所述的用于切割半导体工件的线锯布置(1000),其特征在于,适合于锯切半导体工件(130)的所述线(150)是金刚石线。

11.如权利要求9所述的用于切割半导体工件的线锯布置(1000),其特征在于,所述疏松固体颗粒(111)具有1μm至10mm的直径。

12.如权利要求9所述的用于切割半导体工件的线锯布置(1000),其特征在于,所述线锯布置(1000)进一步包含清洗液供应系统(112)。

13.如权利要求9所述的用于切割半导体工件的线锯布置(1000),其特征在于,所述容器(110)是可移动的。

14.一种如权利要求1或2所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700)的用法,用于通过让所述线(150)移动经过所述容器(110)内的所述疏松固体颗粒(111)来清洁和磨利线锯的线(150)。

15.一种如权利要求9所述的用于切割半导体工件(130)的线锯布置(1000)的用法,用于通过让所述线(150)移动经过所述容器(110)内的疏松固体颗粒(111)来清洁和磨利线锯的线(150)。

16.一种用于清洁适合于切割半导体工件(130)的线(150)的方法,所述方法包含:

让所述线(150)移动经过如权利要求1或2所述的容器(110)内的所述疏松固体颗粒(111)。

17.如权利要求16所述的用于清洁线(150)的方法,其特征在于,所述方法进一步包含用所述线(150)切割工件(130)。

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