[发明专利]用于清洁线锯的线的装置和方法无效
申请号: | 201310170827.2 | 申请日: | 2013-05-10 |
公开(公告)号: | CN103963182A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | J·E·朴;R·叙埃尔迪亚 | 申请(专利权)人: | 应用材料瑞士有限责任公司 |
主分类号: | B28D7/02 | 分类号: | B28D7/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 侯颖媖 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 清洁 装置 方法 | ||
1.一种用于清洁适合于锯切半导体工件(130)的线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),所述装置包括:
包含第一开口(115)的容器(110),其中所述容器(110)由疏松固体颗粒(111)填充,并且经调适以使得所述线(150)能够通过所述第一开口(115)并通过所述疏松固体颗粒(111)。
2.如权利要求1所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述疏松固体颗粒(111)是从以下材料列表中选择的颗粒:沙、陶瓷、硅、金属、塑料或上述颗粒的任何组合。
3.如权利要求1或2所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述疏松固体颗粒(111)具有1μm至10mm的直径。
4.如权利要求1或2所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述疏松固体颗粒(111)具有1μm至8mm的直径。
5.如权利要求1或2所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述装置进一步包含清洗液供应系统(112)。
6.如权利要求5所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述容器(110)包含适合于允许来自所述清洗液供应系统(112)的清洗液(113)进入所述容器(110)的第二开口(116)。
7.如权利要求1或2所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述装置进一步包含一个或更多个用于给所述疏松固体颗粒(111)充电和充磁的装置(320)。
8.如权利要求1或2所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700),其特征在于,所述容器(110)是可移动的。
9.一种用于切割半导体工件(130)的线锯布置(1000),包括:
包含适合于锯切半导体工件(130)的线(150)的线锯,以及
如权利要求1或2所述的用于清洁所述线锯的所述线(150)的装置(100、300、400、500、700)。
10.如权利要求9所述的用于切割半导体工件的线锯布置(1000),其特征在于,适合于锯切半导体工件(130)的所述线(150)是金刚石线。
11.如权利要求9所述的用于切割半导体工件的线锯布置(1000),其特征在于,所述疏松固体颗粒(111)具有1μm至10mm的直径。
12.如权利要求9所述的用于切割半导体工件的线锯布置(1000),其特征在于,所述线锯布置(1000)进一步包含清洗液供应系统(112)。
13.如权利要求9所述的用于切割半导体工件的线锯布置(1000),其特征在于,所述容器(110)是可移动的。
14.一种如权利要求1或2所述的用于清洁线锯的线(150)的装置(100、300、400、500、700)的用法,用于通过让所述线(150)移动经过所述容器(110)内的所述疏松固体颗粒(111)来清洁和磨利线锯的线(150)。
15.一种如权利要求9所述的用于切割半导体工件(130)的线锯布置(1000)的用法,用于通过让所述线(150)移动经过所述容器(110)内的疏松固体颗粒(111)来清洁和磨利线锯的线(150)。
16.一种用于清洁适合于切割半导体工件(130)的线(150)的方法,所述方法包含:
让所述线(150)移动经过如权利要求1或2所述的容器(110)内的所述疏松固体颗粒(111)。
17.如权利要求16所述的用于清洁线(150)的方法,其特征在于,所述方法进一步包含用所述线(150)切割工件(130)。
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