[发明专利]介质导出收纳装置以及介质处理装置有效
申请号: | 201310170898.2 | 申请日: | 2013-05-10 |
公开(公告)号: | CN103456089A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 伊藤一吉 | 申请(专利权)人: | 冲电气工业株式会社 |
主分类号: | G07D13/00 | 分类号: | G07D13/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李洋;舒艳君 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 介质 导出 收纳 装置 以及 处理 | ||
1.一种介质收纳导出装置,利用两条一组的一组以上的带来夹持介质,并将该介质与该带一起卷绕于滚筒或从滚筒退绕,从而对介质进行收纳或导出,其中,所述介质收纳导出装置具有:
介质检测部,其检测介质是否到达介质进出口与所述滚筒之间的规定位置;
介质位置信息取得部,在将介质卷绕于所述滚筒时,该介质位置信息取得部取得表示介质相对于该滚筒的卷绕位置的介质位置信息;
计算部,其根据由所述介质位置信息取得部取得的介质位置信息,计算将卷绕于所述滚筒的介质退绕时介质到达所述规定位置为止的预计到达时间;以及
控制部,其进行以下控制,即:在介质退绕时,在所述预计到达时间内介质未到达所述规定位置的情况下,等待介质的到达直到进一步经过允许时间为止,在该允许时间内介质未到达所述规定位置的情况下,停止介质的退绕,
所述允许时间被设定为:比在所述预计到达时间内介质未到达所述规定位置的原因是介质阻塞的情况下所述带松弛而卷入意料之外的位置所需的时间短,并且是所述原因为介质的位置偏移的情况下能够继续等待该介质到达的时间。
2.根据权利要求1所述的介质收纳导出装置,其中,
所述控制部在使介质的退绕停止后,通过将所述带卷绕于所述滚筒来消除该带的松弛。
3.根据权利要求2所述的介质收纳导出装置,其中,
所述控制部在使介质的退绕停止后,至少在所述允许时间以上继续将所述带卷绕于所述滚筒。
4.根据权利要求3所述的介质收纳导出装置,其中,
与介质一起卷绕于所述滚筒的所述带形成为在退绕时从该滚筒的上端部与该滚筒分离的构造,
所述允许时间被设定为以下时间,即:比从所述滚筒的上端部与该滚筒分离的所述带因介质阻塞而松弛从而朝该滚筒的下端部侧下垂、并从该滚筒的下端部卷入该滚筒为止所需的时间短。
5.根据权利要求4所述的介质收纳导出装置,其中,
所述允许时间被设定为:所述带退绕所述滚筒的半周的两倍的长度所需的时间。
6.根据权利要求3所述的介质收纳导出装置,其中,
在将所述带卷绕于所述滚筒后,所述控制部输出表示存在发生介质阻塞的可能性的意思的错误。
7.根据权利要求3所述的介质收纳导出装置,其中,
具有使所述滚筒旋转的脉冲马达,
所述介质位置信息取得部取得在所述介质检测部检测到介质的时刻从所述脉冲马达得到的脉冲计数,来作为表示介质相对于所述滚筒的卷绕位置的介质位置信息。
8.根据权利要求3所述的介质收纳导出装置,其中,
所述介质检测部是配置在所述规定位置的光学传感器,以介质是否遮挡该光学传感器的光轴来检测介质的到达。
9.一种介质处理装置,其中,具有:
鉴别部,其对介质进行鉴别;和
暂时保留部,其由以下机构形成,即:利用两条一组的一组以上的带来夹持由所述鉴别部鉴别过的介质,并将该介质与该带一起卷绕于滚筒或从滚筒退绕,从而对介质进行收纳或导出的机构,
所述暂时保留部具有:
介质检测部,其检测介质是否到达介质进出口与所述滚筒之间的规定位置;
介质位置信息取得部,在将介质卷绕于所述滚筒时,该介质位置信息取得部取得表示介质相对于该滚筒的卷绕位置的介质位置信息;
计算部,其根据由所述介质位置信息取得部取得的介质位置信息,计算将卷绕于所述滚筒的介质退绕时介质到达所述规定位置为止的预计到达时间;以及
控制部,其进行以下控制,即:在介质退绕时,在所述预计到达时间内介质未到达所述规定位置的情况下,等待介质的到达直到进一步经过允许时间为止,在该允许时间内介质未到达所述规定位置的情况下,停止介质的退绕,
所述允许时间被设定为:比在所述预计到达时间内介质未到达所述规定位置的原因是介质阻塞的情况下所述带松弛而卷入意料之外的位置所需的时间短,并且是所述原因为介质的位置偏移的情况下能够继续等待该介质到达的时间。
10.根据权利要求9所述的介质处理装置,其中,
还具有拒收库,
对于由所述鉴别部鉴别过的介质中被判断为引起介质阻塞的可能性高的介质的介质,不输送至所述暂时保留部而是输送至所述拒收库进行保管。
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