[发明专利]触控检测系统及其电容式触控检测方法有效
申请号: | 201310172447.2 | 申请日: | 2013-05-10 |
公开(公告)号: | CN103389844A | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | Z·赫尔沙曼 | 申请(专利权)人: | 新唐科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 系统 及其 电容 式触控 方法 | ||
1.一种触控检测系统,其特征在于,包含:
一触控表面组,位于一触控面板中,所述触控表面组包含多个触控表面;以及
至少一触控警示产生器,用以分别警示位于所述触控表面中,至少一第一触控表面以及一第二触控表面其中之一或两者上的一触控动作;
其中所述触控警示产生器用以判断所述第一触控表面的一第一触控表面电容值,判断所述第一触控表面以及所述第二触控表面的一触控物体电容值,以及计算所述第一触控表面电容值以及所述触控物体电容值间的一差距,并据以产生所述第二触控表面的所述触控物体电容值的一近似值;
且其中所述第一及所述第二触控表面分别通过一第一电阻物以及一第二电阻物连接于单一的所述触控警示产生器,其中所述第二电阻物的一第二电阻值大于所述第一电阻物的一第一电阻值,所述第一电阻值至少为0欧姆。
2.根据权利要求1所述的触控检测系统,其特征在于,所述触控警示产生器用以于发生触控时判断所述第一触控表面的所述第一触控表面电容值,于发生触控时判断所述第一触控表面以及所述第二触控表面的所述触控物体电容值,以及于发生触控时计算所述第一触控表面电容值以及所述触控物体电容值间的所述差距,并据以产生所述第二触控表面的所述触控物体电容值。
3.根据权利要求2所述的触控检测系统,其特征在于,所述触控警示产生器用以在未触控时根据预先校正的至少一系数K校正所述第二触控表面的所述触控物体电容值的所述近似值。
4.根据权利要求1所述的触控检测系统,其特征在于,各所述触控表面与所述触控警示产生器间的所述第一电阻值及所述第二电阻值相差至少一数量级。
5.根据权利要求1所述的触控检测系统,其特征在于,所述触控表面由置于一绝缘表面上的一单层物质形成,其中所述绝缘表面覆盖一触控面板区域。
6.根据权利要求1所述的触控检测系统,其特征在于,所述第一电阻值及所述第二电阻值至少其中之一的至少一部分阻值是由多个走线其中之一提供,且各所述走线用以连接至少其中之一所述触控表面以及所述触控警示产生器。
7.根据权利要求6所述的触控检测系统,其特征在于,所述触控表面组定义一触控面板主动区,且其中各用以连接至少其中之一所述触控表面以及所述触控警示产生器的至少一所述走线设置于所述触控面板主动区内。
8.根据权利要求6所述的触控检测系统,其特征在于,各用以连接至少其中之一所述触控表面以及所述触控警示产生器的所述走线包含一透明导体。
9.根据权利要求6所述的触控检测系统,其特征在于,所述触控表面组包含形成一阵列的所述触控表面,且所述阵列具有一垂直长度,所述阵列的所述触控表面排列为多个行及多个列,所述走线互不交越,以建构一单层触控面板;
其中至少二触控表面形成的多个触控表面群组中的至少一部分,是串联至单一的所述触控警示产生器,以由所述触控警示产生器伺服;
所述触控表面群组各包含位于一第一列的至少一所述第一触控表面以及位于所述第一列邻近的一列的所述第二触控表面。
10.根据权利要求9所述的触控检测系统,其特征在于,所述第二触控表面至所述第一触控表面的一垂直距离,小于所述垂直长度的三分之二,以降低所述触控表面间的干扰。
11.根据权利要求1所述的触控检测系统,其特征在于,各所述触控表面与所述触控警示产生器间的一电阻值互相相差至少两倍。
12.根据权利要求6所述的触控检测系统,其特征在于,所述第一触控表面以及所述第二触控表面分别通过一第一走线以及一第二走线连接至单一的所述触控警示产生器,并由所述触控警示产生器伺服,所述第一触控表面以及所述第二触控表面间的一电阻值差是由所述第一走线及所述第二走线间的长度差距产生。
13.根据权利要求6所述的触控检测系统,其特征在于,所述第一触控表面以及所述第二触控表面分别通过一第一走线以及一第二走线连接至单一的所述触控警示产生器,并由所述触控警示产生器伺服,所述第一触控表面以及所述第二触控表面间的一电阻值差是由所述第一走线及所述第二走线间的宽度差距产生。
14.根据权利要求11所述的触控检测系统,其特征在于,所述第二走线往复至少一次。
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