[发明专利]敏感器件总剂量效应失效率的测算方法

权利要求书

1.一种敏感器件总剂量效应失效率的测算方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1、提供多份待检测的器件样品；

S2、对各器件样品分别进行失效剂量检测；

S3、将各器件样品的失效剂量输入尺度因子计算模块进行计算，并得到对数正态分布尺度因子数值；

所述尺度因子计算模块内设置有基于以下数学公式建立的数学计算模型：

$\mathrm{\μ}=\stackrel{\‾}{ln\left(R_{FAIL-TID}\right)}=\frac{1}{n}\underset{i=1}{\overset{n}{\Σ}}ln\left(\right(R_{FAIL-TID-i}\left)\right)$

式中：μ为对数正态分布尺度因子；

n为器件样品数量；

R_FAIL-TID-i为第i个器件样品的失效剂量；

S4、将对数正态分布尺度因子数值输入形状因子计算模块进行计算，并得到对数正态分布形状因子数值；

S5、预测敏感器件累积的电离辐射总剂量；

S6、将对数正态分布尺度因子数值、对数正态分布形状因子数值和敏感器件累积的电离辐射总剂量输入失效率计算模块进行计算，并得到总剂量效应失效率。

2.根据权利要求1所述的敏感器件总剂量效应失效率的测算方法，其特征在于：还包括如下步骤：

将总剂量效应失效率与参考总剂量效应失效率进行比较，以此分析判断敏感器件的可靠性。

3.根据权利要求2所述的敏感器件总剂量效应失效率的测算方法，其特征在于：所述形状因子计算模块内设置有基于以下数学公式建立的数学计算模型：

$\mathrm{\σ}={\left(\frac{1}{n-1}\underset{i=1}{\overset{n}{\Σ}}{\[ln\left(R_{FAIL-TID-i}\right)-\mathrm{\μ}\]}^2\right)}^{1/2}$

式中：σ为对数正态分布形状因子。