[发明专利]保偏光纤中偏振模耦合分布的测量方法有效
申请号: | 201310173240.7 | 申请日: | 2013-05-10 |
公开(公告)号: | CN103245490A | 公开(公告)日: | 2013-08-14 |
发明(设计)人: | 董晖;唐明;曹锋;王超东 | 申请(专利权)人: | 武汉钜风科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 | 代理人: | 魏殿绅;庞炳良 |
地址: | 430000 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 偏光 偏振 耦合 分布 测量方法 | ||
1.一种保偏光纤中偏振模耦合分布的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、搭建保偏光纤中偏振模耦合分布的测量装置:该测量装置包括宽带光源、强度调制器、第一偏振器、第二偏振器、光放大器、光电探测器和矢量网络分析仪,宽带光源通过光纤跳线与强度调制器相连,强度调制器通过光纤跳线与第一偏振器相连,测量被测保偏光纤的总长度L,计算出整个被测保偏光纤的时延T0:T0=L/光速,第一偏振器与第二偏振器之间的间距为被测保偏光纤的总长度L,第二偏振器通过光纤跳线与光放大器相连,光放大器通过光纤跳线与光电探测器相连,光电探测器通过射频线缆与矢量网络分析仪相连,矢量网络分析仪通过射频线缆与强度调制器相连;
S2、宽带光源输出的光信号经过光纤跳线进入强度调制器,旋转第一偏振器,强度调制器输出的光信号经过光纤跳线进入第一偏振器,第一偏振器的输出端与被测保偏光纤的一端相连,被测保偏光纤的另一端与第二偏振器的输入端相连,测量出第一偏振器的光轴与保偏光纤的快轴之间的夹角θ0,第一偏振器以θ0角耦合到保偏光纤中,计算出保偏光纤入射点的偏振模耦合强度η0:η0=sin2θ0;旋转第二偏振器P2,测量出第二偏振器P2的光轴与保偏光纤的快轴之间的夹角α,通过调节第二偏振器P2的偏转角α来调整两个偏振模之间的消光比;保偏光纤中有n个点发生偏振模耦合,n为自然数,T是延迟时间变量,θi是保偏光纤中相邻两个节段间快轴的夹角,i=1,2...,n,i是偏振模耦合点的位置编号,Li是第i个偏振模耦合点的位置,第i个偏振模耦合点的偏振模耦合强度为ηi;
S3、设置矢量网络分析仪的射频频率范围F0和扫描步长Δf,根据公式:计算保偏光纤中偏振模耦合分布的测量装置的空间分辨率ΔL;矢量网络分析仪发射调制射频信号S(t)至强度调制器,t是时间变量,对输入强度调制器的光信号加载调制射频信号S(t);
第二偏振器P2后端的电场强度E为:
其中,j是虚数单位,ω0是光波的中心频率,βF是保偏光纤的快轴的传播常数,L0是入射端的位置,βS是保偏光纤的慢轴的传播常数,Tn是第n个偏振模耦合点的时延,Ln是第n个偏振模耦合点的位置;
第二偏振器P2输出的光信号的光功率P与第二偏振器P2后端的电场强度E的平方成正比:
其中,Ti是第i个偏振模耦合点的时延,S(t-Ti)是第i个偏振模耦合点的射频信号表达式,是所有偏振模耦合点的耦合强度与射频信号的乘积之和;
第二偏振器P2输出的光信号经过光放大器进行放大,光放大器产生的射频滤波器响应为H(ωm):
其中,ωm是时域信号变换到频域中的信号频率,是所有偏振模耦合点的耦合强度与光信号表达式乘积之和;
光放大器输出的光信号进入光电探测器,光电探测器对接收的光信号进行探测,探测到光信号的光强表达式为:
其中,i、k均是位置编号,ηi是第i个偏振模耦合点的偏振模耦合强度,ηk是第k个偏振模耦合点的偏振模耦合强度,Ti是第i个偏振模耦合点的时延,Tk是第k个偏振模耦合点的时延,是所有偏振模耦合点的偏振模耦合强度的平方和;
光电探测器将探测到的光信号转换为电信号,输出电信号到矢量网络分析仪,矢量网络分析仪接收、显示、存储光电探测器发来的电信号;矢量网络分析仪对方程(4)做傅里叶逆变换,最终计算得到偏振模耦合发生的位置Li和强度ηi。
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