[发明专利]一种超薄型VSOP封装件及其生产方法有效

专利信息
申请号: 201310176933.1 申请日: 2013-05-14
公开(公告)号: CN103337483A 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 蔺兴江;陈志祥;慕蔚;何文海 申请(专利权)人: 天水华天科技股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/495;H01L21/56
代理公司: 甘肃省知识产权事务中心 62100 代理人: 李琪
地址: 741000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 一种 超薄型 vsop 封装 及其 生产 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于电子信息自动化元器件制造技术领域,涉及一种封装件,尤其涉及一种超薄型VSOP封装件;本发明还涉及一种该超薄型VSOP封装件的生产方法。 

背景技术

集成电路(Integrated circuit Corde,简称IC)封装是近20年来传入中国的一项新技术。它是把具有存储、运算等功能的集成电路IC芯片包封在一种塑料材料里,使其成为能存储、转载、传递、处理数据的载体。IC封装件的成本一般比磁卡高,但容量大、体积小、重量轻、抗干扰能力强、便于携带、易于使用、保密性更好、使用寿命长。近10年,行业市场增速每年都维持在15%~20%,由于其具有信息存储量大,安全保密性好、存储快捷等优点、己在电信、金融、商贸、交通、城市公共事业管理等众多领域得到广泛应用,并取得了初步的社会效益和经济效益。目前,IC(集成电路)封装技术不断向高度集成化、高性能化、多引线和细间距化方向发展,随之出现了小引出线封装(Very thin Small Outline  Package,简称VSOP封装),VSOP封装的连接脚与封装件之间的距离很小,能够满足多种功能的要求,但现有小引出线封装的封装良率较低,而且成本较高。 

发明内容

本发明的目的是提供一种超薄型VSOP封装件,具有较高的封装良率,而且成本较低。

本发明的另一个目的是提供一种上述封装件的生产方法。

为实现上述目的,本发明所采用的技术方案是:一种超薄型VSOP封装件,包括载体,载体上粘接有IC芯片,IC芯片通过键合线与内引脚相连接,内引脚与连接脚相连接,载体、IC芯片、键合线、内引脚以及连接脚与内引脚相连接的一端均封装于塑封体,载体朝向内引脚的两个侧面各有3个半圆形的凹槽,载体背面设有呈矩阵式排列的多个凹坑,用以增强塑封体与载体背面和侧面的结合力;塑封体两侧各伸出四个连接脚,连接脚伸出塑封体的长度为1mm~1.5mm,相邻两个连接脚之间的距离为1.27±0. 05mmBSC。

所有内引脚朝向载体的一端为“T”字型,沿远离载体的方向、内引脚上依次设有锁定孔和V形槽,用以增强塑封体与框架结合力,防止切筋和成形时引脚松动而产生离层,提高产品可靠性,满足MSL1可靠性要求。

本发明所采用的另一个技术方案是:一种上述超薄型VSOP封装件的生产方法,具体按以下步骤进行:

a.晶圆减薄

通过粗磨、精磨和抛光,得到最终厚度为150μm~170μm的晶圆;晶圆减薄过程中采用防止芯片翘曲工艺。

b. 划片

对减薄后的晶圆划片,划片进刀速度6~10mm/s,划片后清洗烘干;

c. 上芯

取背面粘贴有防溢料胶膜的多排矩阵式引线框架,上芯;根据芯片尺寸大小,采用DOE方法优化选用吸咀、多头顶针以及多头点胶头,采用划胶工艺、划胶速度300mm/s控制出胶量,防止爬胶;上芯后选用排风量≤20L/min、内部温度均匀的烘箱,采用先低温烘烤后高温烘烤的分段烘烤防分层工艺,在150℃~175℃的温度下烘烤3小时;

d.压焊

采用金丝键合低弧度控制技术进行压焊,通过平弧、反打与正打相结合的方式,以及尖锐拐角和平拐角的高级线弧形状,控制键合线弧高≤100μm;

e. 塑封及后固化

采用超薄型防翘曲和减小、消除离层的塑封工艺,控制模流和注塑速度,进行塑封;保证冲丝率<5%,防胶体未填充、防芯片顶出破裂和焊线外漏,减少反包或回包;注塑后的固化时间比正常固化时间增加10秒~30秒;

后固化时采用防翘曲夹具夹持塑封后的IC框架料条,在175℃的温度下老化5小时,烘箱温度降至70℃以下后置于室温条件完全冷却;

f. 切除引线框架上的中筋连杆,切筋模具的刀具与塑封体之间的间隙大于0.05mm;

g. 打印工艺与同引脚SOP相同;

h. 对塑封体及外露电镀引线进行无铅镀锡,使连接脚表面镀覆一层焊锡;但是,镍钯金电镀框架不用电镀;

i. 采用冲切分离式入管方法冲切分离,在满足产品质量要求前提下控制冲切刀片到塑封体的距离为0.10mm,模具使塑封体上下固定压实,避免悬空,生产中及时清理模具内残胶碎片,防止残留异物造成产品偏移,以及多余物挤压导致塑封体产生破裂的隐患;

冲切分离入管后的产品经外观检验后,按客户要求包装入库。

本封装件重点解决的问题是突破超薄型(VSOP)IC芯片封装的关键技术。具体为:

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