[发明专利]触控板

说明书

技术领域

本发明是涉及一种触控板，特别涉及一种具有非跨桥设计的交叉检测单元的触控板。

背景技术

触控板的技术发展非常多样化，目前较常见的技术包括电阻式、电容式以及光学式等。其中电容式触控板由于具有高准确率、多点触控、高耐用性以及高触控解析度等特点，已成为目前中高阶消费性电子产品使用的主流触控技术。电容式触控板的操作原理是使用感应电极来检测触控点位的电容变化，并利用不同方向轴上连结各个电极的连结线将信号传回而完成定位。

请参考图1到图5。图1所示为传统的触控板的交叉检测单元的示意图。图2为沿图1中A-A’剖线所绘示的剖视图。图3为图2中的遮光层发生位移的状况示意图。图4所示为另外一传统的触控板的交叉检测单元的示意图。图5为沿图4中B-B’剖线所绘示的剖视图。如图1与图2所示，传统的触控板的交叉检测单元10包括一第一透明电极51、一第二透明电极52以及一金属桥接线30设置在一基底11上。第一透明电极51与第二透明电极52是互相交错设置，而金属桥接线30是在一垂直基底11的垂直投影方向Z上与第一透明电极51以及第二透明电极52互相重叠。第一透明电极51包括两个互相分离的透明子电极51S沿一第一方向X排列设置。第二透明电极52是在第一方向X上设置在两透明子电极51S之间。金属桥接线30是用以电连接两透明子电极51S。在传统的触控板中，设置在基底11上的遮光层20具有开口20H用以构成虚拟键图案21。当交叉检测单元10与虚拟键图案21对应设置时，若金属桥接线30是设置在遮光层20之上(如图2所示)，第二透明电极52在形成时易受到遮光层20以及金属桥接线30所形成的地形起伏影响而发生断线等影响合格率的问题，尤其是此结构中一般还需在金属桥接线30以及第二透明电极52之间设置绝缘块40用以电隔离金属桥接线30与第二透明电极52，而绝缘块40的设置会加剧地形起伏的变化而不利于第二透明电极52的形成。此外，在此结构设计下，若受工艺状况变化的影响而使得遮光层20在基底11上的形成位置产生偏移时(如图3所示)，不但会进一步增加第二透明电极52发生断线的机会，同时也可能会使得金属桥接线30也发生爬坡断线的问题。另外，如图4与图5所示，在另外一传统的触控板的交叉检测单元10’中，若当金属桥接线30对应设置在开口20H中时，第二透明电极52仍会受到位于开口20H中的金属桥接线30所形成的地形起伏影响而发生断线等影响合格率的问题。此外，金属桥接线30也容易导致静电破坏发生且容易产生杂散电容，故不论在合格率或触控操作上均有负面的影响。

发明内容

本发明的目的在提供一种触控板，用非跨桥方式电连接交叉检测单元中互相分离的两子电极，进而达到提高生产合格率、产品可靠性以及触控检测效果的目的。

本发明提供一种触控板，包括一基底以及一交叉检测单元。交叉检测单元是设置在基底上，且交叉检测单元包括一第一电极、一第二电极以及一连接线。第一电极包括两个互相分离的子电极沿一第一方向排列设置。第二电极是在第一方向上设置在两子电极之间。连接线电连接两子电极，且连接线在垂直基底的一垂直投影方向上未与第二电极重叠。

附图说明

图1所示为传统的触控板的交叉检测单元的示意图。

图2为沿图1中A-A’剖线所绘示的剖视图。

图3为图2中的遮光层发生位移的状况示意图。

图4所示为另外一传统的触控板的交叉检测单元的示意图。

图5为沿图4中B-B’剖线所绘示的剖视图。

图6所示为本发明的一优选实施例的触控板的示意图。

图7所示为本发明的一优选实施例的触控板的交叉检测单元示意图。

图8为沿图7中C-C’剖线所绘示的剖视图。

图9A、图9B以及图9C所示为本发明的触控板的第一电极与第二电极的局部示意图。

图10所示为本发明的另外一优选实施例的触控板的交叉检测单元示意图。

图11为沿图10中D-D’剖线所绘示的剖视图。

其中，附图标记说明如下：

10    交叉检测单元

10’  交叉检测单元

11    基底

20    遮光层

20H   开口

21    虚拟键图案

30    金属桥接线

40    绝缘块

51    第一透明电极

51S   透明子电极

52    第二透明电极

100   触控板