[发明专利]一种增强金属铜与NDC界面结合强度的方法有效

专利信息
申请号: 201310179587.2 申请日: 2013-05-15
公开(公告)号: CN104157603B 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 周鸣 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768
代理公司: 上海光华专利事务所31219 代理人: 余明伟
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 增强 金属 ndc 界面 结合 强度 方法
【权利要求书】:

1.一种增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于,至少包括以下步骤:

1)于低k介质层中形成通孔结构,于所述通孔结构填充金属铜;

2)于所述低k介质层及金属铜表面形成C9H27NSi3薄层;

3)通入C9H27NSi3气体及He并进行等离子体处理,使所述C9H27NSi3薄层及C9H27NSi3气体与He反应,于所述低k介质层及金属铜表面形成富Si的SiCN层;

4)对所述富Si的SiCN层进行N等离子体处理,使所述富Si的SiCN层中的Si与N反应,形成富SiN的SiCN层;

5)于所述富SiN的SiCN层表面形成NDC层。

2.根据权利要求1所述的增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于:步骤1)至少包括于所述通孔结构内及低k介质层表面沉积金属铜,并采用CMP工艺进行抛光直至露出所述低k介质层的步骤。

3.根据权利要求1所述的增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于:所述通孔结构包括大马士革结构及圆柱状通孔结构的一种或两种。

4.根据权利要求1所述的增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于:步骤2)采用气体吸附的方式于所述金属铜表面形成C9H27NSi3薄层。

5.根据权利要求4所述的增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于:吸附过程中,采用的气压为0.1~7torr,温度为10~400℃,C9H27NSi3的流量为100~2000sccm,吸附时间不小于1s。

6.根据权利要求1所述的增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于:步骤3)中,等离子体处理所采用的功率为100~2000w,气压为0.1~7torr,温度为50~400℃,He的流量为100~2000sccm,C9H27NSi3的流量为100~2000sccm。

7.根据权利要求1所述的增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于:步骤4)中,N等离子体处理所采用的反应气体为NH3

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