[发明专利]一种增强金属铜与NDC界面结合强度的方法有效
申请号: | 201310179587.2 | 申请日: | 2013-05-15 |
公开(公告)号: | CN104157603B | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
发明(设计)人: | 周鸣 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 上海光华专利事务所31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 增强 金属 ndc 界面 结合 强度 方法 | ||
1.一种增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于,至少包括以下步骤:
1)于低k介质层中形成通孔结构,于所述通孔结构填充金属铜;
2)于所述低k介质层及金属铜表面形成C9H27NSi3薄层;
3)通入C9H27NSi3气体及He并进行等离子体处理,使所述C9H27NSi3薄层及C9H27NSi3气体与He反应,于所述低k介质层及金属铜表面形成富Si的SiCN层;
4)对所述富Si的SiCN层进行N等离子体处理,使所述富Si的SiCN层中的Si与N反应,形成富SiN的SiCN层;
5)于所述富SiN的SiCN层表面形成NDC层。
2.根据权利要求1所述的增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于:步骤1)至少包括于所述通孔结构内及低k介质层表面沉积金属铜,并采用CMP工艺进行抛光直至露出所述低k介质层的步骤。
3.根据权利要求1所述的增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于:所述通孔结构包括大马士革结构及圆柱状通孔结构的一种或两种。
4.根据权利要求1所述的增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于:步骤2)采用气体吸附的方式于所述金属铜表面形成C9H27NSi3薄层。
5.根据权利要求4所述的增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于:吸附过程中,采用的气压为0.1~7torr,温度为10~400℃,C9H27NSi3的流量为100~2000sccm,吸附时间不小于1s。
6.根据权利要求1所述的增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于:步骤3)中,等离子体处理所采用的功率为100~2000w,气压为0.1~7torr,温度为50~400℃,He的流量为100~2000sccm,C9H27NSi3的流量为100~2000sccm。
7.根据权利要求1所述的增强金属铜与NDC界面结合强度的方法,其特征在于:步骤4)中,N等离子体处理所采用的反应气体为NH3。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造