[发明专利]一种面源黑体温度准确度的校准方法及其校准系统

权利要求书

1.一种面源黑体温度准确度的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤A：在面源黑体设定温度范围内选取M个不同的校准温度点；

步骤B：利用高精度的计量标准铂电阻温度计在所述各个校准温度点通过校准孔对面源黑体辐射源进行温度测量，得到各个校准温度点的真实温度值T_i，同时记录所述各校准温度点对应的面源黑体自身的辐射温度t_i；

步骤C：将所述各个校准温度点的面源黑体自身的辐射温度与计量标准铂电阻温度计测量的真实温度值进行线性拟合，并计算出校正因子k_i，b_i；

步骤D：利用所述校正因子，对面源黑体温度进行校正。

2.根据权利要求1所述的面源黑体温度准确度的校准方法，其特征在于，所述步骤A中所述校准温度点的选取为在设定的温度范围内选取。

3.根据权利要求1所述的面源黑体温度准确度的校准方法，其特征在于，所述步骤A中所述M个不同的校准温度点每两个点之间构成一分段，把所述面源黑体的设定温度分成若干分段进行校准。

4.根据权利要求1所述的面源黑体温度准确度的校准方法，其特征在于，所述步骤C中计算校正因子k_i，b_i的公式为：

ti(Ri)=kiTi+biti+1(Ri+1)=kiTi+1+bi⇒ki=ti+1(Ri+1)-ti(Ri)Ti+1-Tibi=ti(Ri)Ti+1-ti+1(Ri+1)TiTi+1-Ti,]]>其中，T_i为第i个校准温度点的真实温度值，t_i为第i个校准温度点对应的面源黑体自身的辐射温度，1≤i≤M-1。