[发明专利]一种采用塑封技术优化FCBGA封装的封装件及其制作工艺在审
申请号: | 201310181584.2 | 申请日: | 2013-05-16 |
公开(公告)号: | CN103325693A | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 李涛涛;刘卫东;徐召明;朱文辉;王虎 | 申请(专利权)人: | 华天科技(西安)有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60 |
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地址: | 710018 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 采用 塑封 技术 优化 fcbga 封装 及其 制作 工艺 | ||
1.一种采用塑封技术优化FCBGA封装的封装件,其特征在于:主要由带有bump(2)的芯片(1)、基板背部焊盘(3)、基板(4)、焊盘(5)、锡球(6)和塑封体(8)组成;所述基板(4)带有基板背部焊盘(3)和焊盘(5),基板背部焊盘(3)和bump(2)一一对应,基板(4)通过焊盘(5)植有锡球(6),芯片(1)、bump(2)、基板(4)、锡球(6)依次连接并形成通路,塑封体(8)包裹芯片(1)、基板(4)及部分锡球(6)。
2.一种采用塑封技术优化FCBGA封装的制作工艺,其特征在于:主要按照以下步骤进行:
(1)、晶圆减薄:晶圆减薄通过先粗磨后精磨,从而将晶圆从原始厚度减薄到最终要求厚度;
(2)、晶圆划片:150μm以上晶圆同普通划片工艺,厚度在150μm以下晶圆,使用双刀划片机及其工艺;
(3)、基板植球:根据要求选择合适锡球(6)在基板(4)上进行植球;
(4)、回流清洗:回流参数按照工艺规范要求,按照锡球(6)选取对应回流工艺参数;
(5)、倒装上芯利用倒装上芯机将带bump(2)的芯片(1)在基板(4)上完成上芯;
(6)、回流清洗:回流参数按照工艺规范要求,按照晶圆bump(2)信息选取对应回流工艺参数;
(7)、贴膜:在锡球(6)上贴胶膜(7);
(8)、塑封:将贴膜后的产品传送到塑封模具中,完成用塑封体(8)对贴膜后的产品进行包封的过程;
(9)、揭膜:将锡球(6)上的胶膜(7)揭膜。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造