[发明专利]用于测试集成电路的系统和方法

权利要求书

1.一种测试集成电路的方法，所述方法包括：

经由第一输入引脚接收所述集成电路上的电源电压；

经由所述第一输入引脚向布置在所述集成电路上的电路提供电力；

将所述电源电压与内部生成的电压作比较；

基于所述比较来生成数字输出值；以及

将所述数字输出值施加到所述集成电路的引脚。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述电源电压与内部生成的电压作比较包括使用比较器。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述电源电压与内部生成的电压作比较包括使用模数转换器。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述电源电压与内部生成的电压作比较包括使用电阻分压器来对电源电压进行划分。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述数字输出值施加到所述集成电路的引脚包括经由串行数据接口来传送数字输出值。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述电源电压与内部生成的电压作比较包括将所述电源电压与内部电压调节器的节点作比较。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述内部电压调节器的节点是所述内部电压调节器的反馈电压。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述电源电压与内部生成的电压作比较包括将所述电源电压与电荷泵的输出电压作比较。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，将所述电源电压与电荷泵的输出电压作比较包括将电源分压与电荷泵输出分压作比较。

10.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：基于内部电流来产生所述内部生成的电压。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，基于内部电流来产生所述内部生成的电压包括将在内部调节器电路的输出和所述内部调节器电路的负载之间的电流转换成所述内部生成的电压。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述内部调节器电路的负载包括电荷泵。

13.一种测试MOS开关的方法，所述方法包括：

将所述MOS开关的基板泵送为负电压；

将MOS开关的输出节点与参考电压作比较；以及

当所述MOS开关的所述输出节点小于所述参考电压时，确定失效测试条件。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述MOS开关的所述基板包括布置在半导体基板中的阱。

15.一种集成电路，包括：

第一电路；

数字接口；以及

数据转换器，所述数据转换器具有耦合到电源电压的第一输入、耦合到所述第一电路的第二输入以及耦合到所述数字接口的输出，其中，所述数字接口在测试模式中是可读取的。

16.根据权利要求15所述的集成电路，其中，所述数据转换器包括比较器。

17.根据权利要求15所述的集成电路，其中，所述数字接口包括串行接口。

18.根据权利要求15所述的集成电路，其中：

所述第一电路包括电压调节器；

所述数据转换器的所述第一输入经由分压器耦合到所述电源电压；并且

所述数据转换器的所述第二输入耦合到所述调节器的反馈电压。

19.根据权利要求18所述的集成电路，其中，所述数字接口被配置成指示所述数据转换器在所述测试模式中的输出状态。

20.根据权利要求15所述的集成电路，其中：

所述第一电路包括电压调节器；

所述数据转换器的所述第一输入经由分压器耦合到所述电源电压；

所述集成电路进一步包括与所述电压调节器的输出串联耦合的电流测量电路；并且

所述数据转换器的所述第二输入耦合到所述电流测量电路的输出。

21.根据权利要求20所述的集成电路，其中，所述电流测量电路包括差分放大器，所述差分放大器具有耦合到电流测量电阻器的输入。