[发明专利]一种高氮压助熔剂-坩埚下降法制备GaN晶体的方法有效
申请号: | 201310182293.5 | 申请日: | 2013-05-16 |
公开(公告)号: | CN103305903A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 李振荣;周明斌;范世*;徐卓 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | C30B11/06 | 分类号: | C30B11/06;C30B29/40 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 蔡和平 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高氮压助 熔剂 坩埚 下降 法制 gan 晶体 方法 | ||
1.一种高氮压助熔剂-坩埚下降法制备GaN晶体的方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)在充有保护气体的手套箱中将助熔剂和金属镓以摩尔比(1:9)~(9:1)放入坩埚中混合均匀;
2)将装有助熔剂和金属镓的坩埚放入高温高压晶体生长设备中,密封抽真空后充入含氮气体,然后快速升温至500℃~700℃后,再慢速升温至700℃~900℃后,继续通入含氮气体使压力为1~10MPa,在1~10MPa的压力和700℃~900℃的温度下保持1~100小时;
3)启动高温高压晶体生长设备中的升降装置,按0.1~5mm/d的速率下降坩埚,坩埚下降出温度梯度区后,结束下降;在高温高压晶体生长设备中,再以0.1~50℃/h的降温速率降温至600℃~300℃以下,自然冷却至室温,泄压开炉后取出坩埚,对坩埚中的GaN晶体进行后处理,得到GaN晶体。
2.根据权利要求1所述的高氮压助熔剂-坩埚下降法制备GaN晶体的方法,其特征在于,步骤2)中以300℃/h的升温速率快速升温至500℃~700℃后,再以10℃/h的升温速率慢速升温至700~900℃。
3.根据权利要求1所述的高氮压助熔剂-坩埚下降法制备GaN晶体的方法,其特征在于,所述的后处理为:将取出的坩埚中的GaN晶体依次经无水乙醇、去离子水、热去离子水、盐酸洗涤处理,除去GaN晶体表面残留物后,即在坩埚底部得到GaN晶体,然后对GaN晶体进行干燥。
4.根据权利要求1所述的高氮压助熔剂-坩埚下降法制备GaN晶体的方法,其特征在于,步骤1)中在充有保护气体的手套箱中将摩尔比为(1:9)~(9:1)的助熔剂和金属镓放入坩埚的同时将GaN籽晶放入坩埚中。
5.根据权利要求1所述的高氮压助熔剂-坩埚下降法制备GaN晶体的方法,其特征在于,所述的高温高压晶体生长设备包括:压力罐(1),所述压力罐(1)中设置有加热炉(2),加热炉(2)中设置有控制坩埚(4)升降的升降装置(3)。
6.根据权利要求4或5所述的高氮压助熔剂-坩埚下降法制备GaN晶体的方法,其特征在于,步骤2)具体为:将装有助熔剂和金属镓的坩埚(4)放入到压力罐(1)内的加热炉(2)炉腔中的升降装置(3)上,密封抽真空后充入含氮气体;或将装有GaN籽晶、助熔剂和金属镓的坩埚(4)放入到压力罐(1)内的加热炉(2)炉腔中的升降装置(3)上,密封抽真空后充入含氮气体。
7.根据权利要求1所述的高氮压助熔剂-坩埚下降法制备GaN晶体的方法,其特征在于,所述的坩埚(4)采用氮化硼坩埚、氧化铝坩埚、氧化钇坩埚、氧化锆坩埚、钽坩埚或碳化钨坩埚;所述的坩埚(4)形状为方柱形或圆柱形中的一种。
8.根据权利要求1所述的高氮压助熔剂-坩埚下降法制备GaN晶体的方法,其特征在于,所述的助熔剂包括:碱金属、碱土金属、碱金属的氮化物或碱土金属的氮化物的一种或几种;所述碱金属为钠、锂、钾中的一种或几种;碱土金属为镁、钙、锶、钡中的一种或几种。
9.根据权利要求1所述的高氮压助熔剂-坩埚下降法制备GaN晶体的方法,其特征在于,所述的保护气体为氮气或氩气。
10.根据权利要求1所述的高氮压助熔剂-坩埚下降法制备GaN晶体的方法,其特征在于,所述的含氮气体为氮气、氨气、由氮气和氩气混合而成的混合气、由氨气和氩气混合而成的混合气、由氮气、氨气和氩气混合而成的混合气的一种或几种。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学,未经西安交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310182293.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。