[发明专利]测试信号供应设备和半导体集成电路

权利要求书

1.一种测试信号供应设备，包括：

第一外部端子；

第二外部端子，所述第二外部端子被施加有预定电势；

内部负载；

第一端子，所述第一端子通过所述内部负载连接到所述第一外部端子；

第二端子，所述第二端子在不通过所述内部负载的情况下连接到所述第一外部端子；

测试信号生成部，所述测试信号生成部生成测试信号，并且将所述测试信号供应到所述第二端子；

检测部，所述检测部检测所述测试信号的幅度；以及

控制部，所述控制部基于所检测到的所述测试信号的幅度来测量连接到所述第一外部端子和所述第二外部端子的外部负载的阻抗。

2.根据权利要求1所述的测试信号供应设备，进一步包括：

放大部，所述放大部放大输入信号并且将输出信号输出到所述第一端子，

其中，所述控制部基于所测量的所述外部负载的阻抗来控制所述放大部的增益。

3.根据权利要求1或2所述的测试信号供应设备，进一步包括：

电阻器，所述电阻器具有连接到所述测试信号生成部的一端和连接到所述第二端子的另一端，

其中，所述检测部检测所述测试信号在所述电阻器的所述一端和所述另一端中的至少一个处的幅度。

4.根据权利要求2所述的测试信号供应设备，其中，在所述测试信号生成部输出所述测试信号的测试时间段期间，所述控制部控制所述放大部，使得所述放大部的输出阻抗处于高阻抗态；并且

其中，在除了所述测试时间段之外的时间段期间，所述控制部控制所述测试信号生成部，使得所述测试信号生成部的输出阻抗处于高阻抗态，并且控制所述放大部以将所述输出信号输出到所述第一端子。

5.根据权利要求1或2所述的测试信号供应设备，其中，所述预定电势是接地电势。

6.根据权利要求1或2所述的测试信号供应设备，其中，所述测试信号具有包含余弦波的一个波长的波形。

7.根据权利要求6所述的测试信号供应设备，其中，所述测试信号的波形由所述余弦波中的从上部波峰到后一上部波峰的部分形成。

8.根据权利要求2所述的测试信号供应设备，其中，所述输入信号是声音信号，并且所述测试信号具有比可听频带的最高频率更低的频率。

9.一种半导体集成电路，包括：

第一端子，所述第一端子通过内部负载连接到第一外部端子；

第二端子，所述第二端子在不通过所述内部负载的情况下连接到所述第一外部端子；

测试信号生成部，所述测试信号生成部生成测试信号，并且将所述测试信号供应到所述第二端子；

检测部，所述检测部检测所述测试信号的幅度；以及

控制部，所述控制部基于所检测到的所述测试信号的幅度来测量连接到所述第一外部端子和第二外部端子的外部负载的阻抗。

10.根据权利要求9所述的半导体集成电路，进一步包括：

放大部，所述放大部放大输入信号并且将输出信号输出到所述第一端子，

其中，所述控制部基于所测量的所述外部负载的阻抗来控制所述放大部的增益。

11.根据权利要求9或10所述的半导体集成电路，进一步包括：

电阻器，所述电阻器具有连接到所述测试信号生成部的一端和连接到所述第二端子的另一端，

其中，所述检测部检测所述测试信号在所述电阻器的所述一端和所述另一端中的至少一个处的幅度。

12.根据权利要求10所述的测试信号供应设备，其中，在所述测试信号生成部输出所述测试信号的测试时间段期间，所述控制部控制所述放大部，使得所述放大部的输出阻抗处于高阻抗态；并且

其中，在除了所述测试时间段之外的时间段期间，所述控制部控制所述测试信号生成部，使得所述测试信号生成部的输出阻抗处于高阻抗态，并且控制所述放大部以将所述输出信号输出到所述第一端子。