[发明专利]一种平面显示器面板均匀度检测方法及其系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测方法及其系统，特别是涉及一种平面显示器面板均匀度检测方法及其系统。

背景技术

随着科技日新月异的发展及进步，人们对于视听多媒体产品的要求越来越高，因此平面显示器面板在尺寸上演进有越来越大的趋势，而在尺寸变大的同时也希望能兼顾质量的提升。

有鉴于此，世界上许多国家都投入了大量的人力与资金进行显示技术方面的研究，使得显像技术快速的提升，然而在大量的市场需求下，工厂大量制造的同时，许多人为及制程因素上所造成的缺陷(例如常听到的Mura缺陷)，造成的显像亮度不均匀等问题都会使得产品质量大大下降，然而这些缺陷产生初期往往不易为人眼所察觉，因此便需要仰赖一套完整且精确的检测系统，对液晶显示器进行亮度均匀度及色彩的检测，在产品缺陷产生初期便可准确检测出缺陷位置与大小，对产品进行精密的检测及控管，进而提高产品质量。

在常见的检测方法中，主要将待测面板之发光面分成九个等份，并通过检测装置，如，BM-5A、BM-7A、CS-200O及CA-210其中一个检测仪器来逐一检测其辉度值及色度值，当需要检验的待测面板数量大时，使用此方式非常耗时且还需要添购相关检测仪器，因而造成检测成本提高，因此，有必要寻求解决方案。

发明内容

本发明的目的在于提供一种平面显示器面板均匀度检测方法。

本发明平面显示器面板均匀度检测方法，实现于一均匀度检测系统，该均匀度检测系统包括一画面产生单元、至少一待测面板、一取像单元、一处理单元及一检测单元，该检测方法包含下列步骤:(A)该画面产生单元依据一控制指令产生用于显示在该待测面板的一待测画面，其中，该待测画面包括多个待测区及多个对照区，且每一待测区具有多个第一像素，每一对照区具有多个第二像素，所述第一像素的像素值均大于所述第二像素的像素值；（B）该取像单元拍摄该待测面板所显示的该待测画面，以产生一检测画面，其中，该检测画面包括多个检测区及多个对照区，且该检测画面中每一检测区为对应于该待测画面中相同位置的待测区，该检测画面中每一对照区为对应于该待测画面中相同位置的对照区；（C）该处理单元分别从该检测画面的每一检测区中侦测出一最小像素值，及从该检测画面的其中一对照区中选定一像素并以其像素值作为一像素基准值；以及（D）该检测单元在该检测画面中检测是否至少存有一最小像素值小于该像素基准值，若是，则该检测单元判定该待测面板为一亮度不均匀的面板。

本发明的平面显示器面板均匀度检测方法，在该步骤（A）之前还包含下列步骤：（E）该画面产生单元产生用于显示在该待测面板的一空白画面，其中，该空白画面中所有像素的像素值均相等；（F）该取像单元拍摄该待测面板所显示的该空白画面，以产生一待处理画面，其中，该待处理画面包括多个待处理区，且每一待处理区具有多个像素；（G）该处理单元从该待处理画面中计算每一待处理区所有像素的像素平均值；以及（H）该检测单元在该待处理画面中比对每一待处理区的像素平均值是否大于一门坎值，并通过控制指令将对应于每一待处理区的比对结果传送至该画面产生单元。

本发明的平面显示器面板均匀度检测方法，在该步骤（A）中，该待测画面的每一对照区为对应于在步骤（H）中比对结果为是的该待处理画面中相同位置的待处理区，且该待测画面的每一待测区为对应于在步骤（H）中比对结果为否的该待处理画面中相同位置的待处理区。

本发明的平面显示器面板均匀度检测方法，该待处理画面中的每一待处理区的面积均与该待测画面的每一待测区及每一对照区的面积相同。

本发明的平面显示器面板均匀度检测方法，在该步骤（A）中，该待测画面的每一第一像素的像素值为该待测面板规格的最高亮度所对应的灰阶值，且该待测画面的每一第二像素的像素值为该待测面板规格的最低亮度所对应的灰阶值。

本发明的另一个目的在于提供一种平面显示器面板均匀度检测系统。