[发明专利]高精度日照传感器及其测量方法有效
申请号: | 201310186384.6 | 申请日: | 2013-05-17 |
公开(公告)号: | CN103257374A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 徐毅刚;吕文华;朱庆春;边泽强;杨科三 | 申请(专利权)人: | 江苏省无线电科学研究所有限公司 |
主分类号: | G01W1/12 | 分类号: | G01W1/12 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所 32104 | 代理人: | 殷红梅 |
地址: | 214027 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高精度 日照 传感器 及其 测量方法 | ||
1.一种高精度日照传感器,包括同轴安装的第一光电管(12)、第二光电管(17)及第三光电管(18);第一光电管(12)安装于遮光筒(10)的顶端,第二光电管(17)及第三光电管(18)均位于遮光筒(10)内,第三光电管(18)位于第二光电管(17)的下方;所述遮光筒(10)上设有用于对第二光电管(17)接收并约束入射辐射的上部入射窗(19),且遮光筒(10)上设有用于对第三光电管(18)接收并约束入射辐射的下部入射窗(20);其特征是:所述上部入射窗(19)均匀对称地分布于遮光筒(10)的上部,下部入射窗(20)均匀对称地分布于遮光筒(10)的下部,上部入射窗(19)包含的窗口数量与下部入射窗(20)包含的窗口数量一致,上部入射窗(19)内的窗口与下部入射窗(20)内的窗口在遮光筒(10)上交错分布,以使得第二光电管(17)通过上部入射窗(19)接收到的散射辐射与第三光电管(18)通过下部入射窗(20)接收到的散射辐射均匀一致。
2.根据权利要求1所述的高精度日照传感器,其特征是:所述上部入射窗(19)的窗口数量为四个、六个或八个。
3.根据权利要求1所述的高精度日照传感器,其特征是:所述第一光电管(12)、第二光电管(17)及第三光电管(18)上均设置漫反射器(13)。
4.根据权利要求1所述的高精度日照传感器,其特征是:所述遮光筒(10)位于玻璃管(9)内,所述玻璃管(9)的顶端设有顶盖(11),玻璃管(9)的下部与玻璃管座(8)连接,所述玻璃管座(8)安装于纬度调整架(4)上,所述纬度调整架(4)安装于安装座(1)上。
5.根据权利要求4所述的高精度日照传感器,其特征是:所述安装座(1)上设有水平泡(2)及调节螺钉(3)。
6.根据权利要求4所述的高精度日照传感器,其特征是:所述玻璃管座(8)内设有用于对第一光电管(12)、第二光电管(17)及第三光电管(18)输出信号采样的信号采集处理电路(7),所述信号采集处理电路(7)与第一光电管(12)、第二光电管(17)及第三光电管(18)电连接;信号采集处理电路(7)通过信号线插头(6)输出日照时数。
7.根据权利要求4所述的高精度日照传感器,其特征是:所述玻璃管座(8)内还设有干燥剂仓(5)。
8.一种高精度日照传感器的测量方法,其特征是,所述日照传感器的测量方法包括如下步骤:
(S1)、将第一光电管(12)安装于遮光筒(10)的顶端,通过第一光电管(12)接收360度环带内的太阳辐射;
(S2)、在遮光筒(10)内安装第二光电管(17)及第三光电管(18),遮光筒(10)的上部设置用于接收并约束第二光电管(17)入射辐射的上部入射窗(19)以及用于接收并约束第三光电管(18)入射辐射的下部入射窗(20);第二光电管(17)通过上部入射窗(19)接收到的散射辐射与第三光电管(18)通过下部入射窗(20)接收到的散射辐射均匀一致;
(S3)、信号采集处理电路(7)对第一光电管(12)、第二光电管(17)及第三光电管(18)输出的信号进行采样、对比和计算,以输出相应的日照时数。
9.根据权利要求8所述高精度日照传感器的测量方法,其特征是:所述上部入射窗(19)均匀对称地分布于遮光筒(10)的上部,下部入射窗(20)均匀对称地分布于遮光筒(10)的下部,上部入射窗(19)包含的窗口数量与下部入射窗(20)包含的窗口数量一致,上部入射窗(19)内的窗口与下部入射窗(20)内的窗口在遮光筒(10)上交错分布。
10.根据权利要求9所述高精度日照传感器的测量方法,其特征是:所述上部入射窗(19)的窗口数量为四个、六个或八个。
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