[发明专利]一种太阳能电池片抗PID效应能力的检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及太阳能电池制造技术领域，尤其涉及一种太阳能电池片抗PID效应能力的检测装置及检测方法。

背景技术

太阳能是一种清洁能源，而太阳能电池组件是利用硅材料P-N结的光生伏特效应，将光能转化为电能的装置，包括：相对设置的玻璃背板和玻璃基板；设置在玻璃背板和玻璃基板之间的太阳能电池片；固定所述玻璃背板、太阳能电池片和玻璃基板的封装边框等。

电势诱导衰减（Potential Induced Degradation，PID）效应是指太阳能电池组件长期在高负电压的作用下，使得其玻璃和封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在太阳能电池片的表面，导致太阳能电池片表面的钝化效果恶化，而且太阳能电池片表面累计的电荷会吸引光生载流子，产生漏电流，导致所述太阳能电池组件的填充因子、短路电流、开路电压等电性能参数降低，从而使所述光伏组件的电性能低于设计标准。PID效应严重的情况下，太阳能电池组件的功率会降低90%以上。

现有技术中的PID效应测试是针对太阳能电池组件进行的，包括：在一定的温度和相对湿度条件下，将太阳能电池组件的正负极短接；其次，通过外加电压使太阳能电池片相对于铝表框处于一定的负电压条件下，并保持一定的时间；再次，对所述太阳能电池组件的输出功率进行测试，计算所述太阳能电池组件的输出功率在PID测试前后的衰减程度；最后，根据所述太阳能电池组件的输出功率在PID测试前后的衰减程度，判断该太阳能电池组件是否具有抗PID效应的能力。按照IEC标准，现有技术中PID的测试条件为：85℃的温度、85%的相对湿度、负1000伏的加载电压和96小时的测试时间。如果所述太阳能电池组件的输出功率在PID效应测试前后，其衰减比例小于5%，则认为所述太阳能电池组件具有抗PID效应的能力，反之亦然。

但是，现有技术中的PID效应测试方法准确性较差。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种太阳能电池片抗PID效应能力的检测装置及检测方法，以提高太阳能电池片PID效应测试方法的准确性。

为解决上述问题，本发明实施例提供了如下技术方案：

一种太阳能电池片抗PID效应能力的检测装置，包括：静电发生器，所述静电发生器包括高压电源供应器和与所述高压电源供应器相连的离子棒；位于所述离子棒下方的金属托盘。

优选的，所述静电发生器产生的离子为正离子和负离子的混合离子或正离子或负离子。

优选的，所述金属托盘与所述离子棒之间的距离范围为5㎝-50㎝，包括端点值。

优选的，所述离子棒产生离子辐射的电流强度范围为0.1毫安-10毫安，包括端点值。

优选的，所述离子棒产生离子辐射的时间范围为1小时-200小时，包括端点值。

一种太阳能电池片抗PID效应能力的检测方法，应用于上述的检测装置，包括：

将静电发生器和金属托盘置于测试环境中，其中，所述静电发生器包括高压电源供应器和与所述高压电源供应器相连的离子棒；

检测待检测太阳能电池片的光电转换效率；

将待检测太阳能电池片放置于金属托盘上；

将高压电源供应器和太阳能电池片分别接地；

开启静电发生器，开始实验，并维持预设时间；

关闭静电发生器，检测待检测太阳能电池片的光电转换效率；

根据所述待检测太阳能电池片实验前后的光电转换效率，判断所述待检测太阳能电池片是否具有抗PID效应的能力。

优选的，开启静电发生器，开始实验，并维持预设时间包括：

开启静电发生器，通过高压电源供应器为离子棒提供3万伏高压；

离子棒在高压的作用下，产生离子流；

所述离子流通过辐射的方式，传导到太阳能电池片的表面，在离子棒、太阳能电池片和地之间形成放电回路；

整个过程维持预设时间，所述预设时间为24小时。

优选的，根据所述待检测太阳能电池片实验前后的光电转换效率，判断所述待检测太阳能电池片是否具有抗PID效应的能力包括：

根据所述待检测太阳能电池片实验前后的光电转换效率，计算所述待检测太阳能电池片实验前后的光电转换的衰减比例；

根据所述待检测太阳能电池片实验前后的光电转换的衰减比例，判断所述待检测太阳能电池片是否具有抗PID效应的能力。

优选的，根据所述待检测太阳能电池片实验前后的光电转换的衰减比例，判断所述待检测太阳能电池片是否具有抗PID效应的能力包括：