[发明专利]一种获得好氧堆肥微结构表征参数的方法有效

专利信息
申请号: 201310187430.4 申请日: 2013-05-20
公开(公告)号: CN103234876A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 韩鲁佳;葛金怡;黄光群;王永江;张安琪;黄晶;张阳 申请(专利权)人: 中国农业大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N15/02;G01N15/08
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 100193 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 获得 堆肥 微结构 表征 参数 方法
【权利要求书】:

1.一种获得好氧堆肥过程中微结构表征参数变化趋势的方法,包括以下步骤:

(1)在两个以上时间点对好氧堆肥过程中的堆体分别进行混匀取样;

(2)对步骤(1)中所取样品进行真空冷冻干燥,然后过筛,得到粒径小于2mm的颗粒状待测样品;

(3)检测步骤(2)得到的颗粒状待测样品的中位粒径D50,并绘制以时间点和中位粒径D50为坐标的变化趋势图;

(4)检测步骤(2)得到的颗粒状待测样品的形状因子,并绘制以时间点和形状因子为坐标的变化趋势图;

(5)按照粒径大于步骤(3)中最小的中位粒径D50且小于步骤(3)中最大的中位粒径D50的原则,从步骤(2)得到的每个颗粒状待测样品中选择20个以上颗粒,进行冷冻切片,获得每个颗粒直径最大的颗粒横截面的显微镜照片,并利用图像分析软件计算每个颗粒的孔隙度,将所选取的所有颗粒的检测结果求平均,得到堆肥微单元的平均孔隙度,并绘制以时间点和平均孔隙度为坐标的变化趋势图;

Ai:颗粒上的第i个孔隙的面积;N:颗粒上的孔隙个数;A0:颗粒面积;

(6)利用显微红外光谱仪扫描步骤(5)得到的直径最大的颗粒横截面,应用二阶导数处理原始光谱,从处理后的光谱中优选与好氧反应联系紧密的特征波段,在此波段的二阶导数图像上沿颗粒径向提取二阶导数数值,根据数值变化确定好氧层厚度,并绘制以时间点和好氧层厚度为坐标的变化趋势图。

2.一种获得好氧堆肥微结构的表征方法,包括以下步骤:

(1)对好氧堆肥过程中的堆体进行混匀取样;

(2)对步骤(1)中所取样品进行真空冷冻干燥,然后过筛,得到粒径小于2mm的颗粒状待测样品;

(3)检测步骤(2)得到的颗粒状待测样品的中位粒径D50

(4)检测步骤(2)得到的颗粒状待测样品的形状因子;

(5)从步骤(2)得到的颗粒状待测样品中选择20个以上粒径等于所述中位粒径D50的颗粒,进行冷冻切片,获得每个颗粒直径最大的颗粒横截面的显微镜照片,并利用图像分析软件计算每个颗粒的孔隙度,将所选取的所有颗粒的检测结果求平均,得到堆肥微单元的平均孔隙度;

Ai:颗粒上的第i个孔隙的面积;N:颗粒上的孔隙个数;A0:颗粒面积;

(6)利用显微红外光谱仪扫描步骤(5)得到的直径最大的颗粒横截面,应用二阶导数处理原始光谱,从处理后的光谱中优选与好氧反应联系紧密的特征波段,在此波段的二阶导数图像上沿颗粒径向提取二阶导数数值,根据数值变化确定好氧层厚度。

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于:所述步骤(3)中,所述“检测步骤(2)得到的颗粒状待测样品的中位粒径D50”的方法为动态图像分析法、静态图像分析法或激光粒度法。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于:所述动态图像分析法的方法如下:采用动态图像分析仪,按照国际标准ISO13322-2检测所述颗粒状待测样品的中位粒径D50

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