[发明专利]一种获得好氧堆肥微结构表征参数的方法有效
申请号: | 201310187430.4 | 申请日: | 2013-05-20 |
公开(公告)号: | CN103234876A | 公开(公告)日: | 2013-08-07 |
发明(设计)人: | 韩鲁佳;葛金怡;黄光群;王永江;张安琪;黄晶;张阳 | 申请(专利权)人: | 中国农业大学 |
主分类号: | G01N15/00 | 分类号: | G01N15/00;G01N15/02;G01N15/08 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 关畅 |
地址: | 100193 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 获得 堆肥 微结构 表征 参数 方法 | ||
1.一种获得好氧堆肥过程中微结构表征参数变化趋势的方法,包括以下步骤:
(1)在两个以上时间点对好氧堆肥过程中的堆体分别进行混匀取样;
(2)对步骤(1)中所取样品进行真空冷冻干燥,然后过筛,得到粒径小于2mm的颗粒状待测样品;
(3)检测步骤(2)得到的颗粒状待测样品的中位粒径D50,并绘制以时间点和中位粒径D50为坐标的变化趋势图;
(4)检测步骤(2)得到的颗粒状待测样品的形状因子,并绘制以时间点和形状因子为坐标的变化趋势图;
(5)按照粒径大于步骤(3)中最小的中位粒径D50且小于步骤(3)中最大的中位粒径D50的原则,从步骤(2)得到的每个颗粒状待测样品中选择20个以上颗粒,进行冷冻切片,获得每个颗粒直径最大的颗粒横截面的显微镜照片,并利用图像分析软件计算每个颗粒的孔隙度,将所选取的所有颗粒的检测结果求平均,得到堆肥微单元的平均孔隙度,并绘制以时间点和平均孔隙度为坐标的变化趋势图;
Ai:颗粒上的第i个孔隙的面积;N:颗粒上的孔隙个数;A0:颗粒面积;
(6)利用显微红外光谱仪扫描步骤(5)得到的直径最大的颗粒横截面,应用二阶导数处理原始光谱,从处理后的光谱中优选与好氧反应联系紧密的特征波段,在此波段的二阶导数图像上沿颗粒径向提取二阶导数数值,根据数值变化确定好氧层厚度,并绘制以时间点和好氧层厚度为坐标的变化趋势图。
2.一种获得好氧堆肥微结构的表征方法,包括以下步骤:
(1)对好氧堆肥过程中的堆体进行混匀取样;
(2)对步骤(1)中所取样品进行真空冷冻干燥,然后过筛,得到粒径小于2mm的颗粒状待测样品;
(3)检测步骤(2)得到的颗粒状待测样品的中位粒径D50;
(4)检测步骤(2)得到的颗粒状待测样品的形状因子;
(5)从步骤(2)得到的颗粒状待测样品中选择20个以上粒径等于所述中位粒径D50的颗粒,进行冷冻切片,获得每个颗粒直径最大的颗粒横截面的显微镜照片,并利用图像分析软件计算每个颗粒的孔隙度,将所选取的所有颗粒的检测结果求平均,得到堆肥微单元的平均孔隙度;
Ai:颗粒上的第i个孔隙的面积;N:颗粒上的孔隙个数;A0:颗粒面积;
(6)利用显微红外光谱仪扫描步骤(5)得到的直径最大的颗粒横截面,应用二阶导数处理原始光谱,从处理后的光谱中优选与好氧反应联系紧密的特征波段,在此波段的二阶导数图像上沿颗粒径向提取二阶导数数值,根据数值变化确定好氧层厚度。
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于:所述步骤(3)中,所述“检测步骤(2)得到的颗粒状待测样品的中位粒径D50”的方法为动态图像分析法、静态图像分析法或激光粒度法。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于:所述动态图像分析法的方法如下:采用动态图像分析仪,按照国际标准ISO13322-2检测所述颗粒状待测样品的中位粒径D50。
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