[发明专利]信息处理设备、信息处理方法和程序有效

专利信息
申请号: 201310193015.X 申请日: 2013-05-22
公开(公告)号: CN103454204A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 关野正志;加藤泰信;伊藤达巳 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14;G01N21/64
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 信息处理 设备 方法 程序
【权利要求书】:

1.一种信息处理装置,包括:

测试部,针对一频带,对单染色数据和未染色数据执行统计测试以用于比较,所述单染色数据通过对受到具有规定荧光特性的染色材料的单染色的颗粒进行荧光测量来获得,所述未染色数据通过对未染色颗粒进行荧光测量来获得;

遮蔽处理部,在所述频带的所述单染色数据和所述未染色数据之间没有显著差异的情况下,将所述单染色数据设置为0或规定值;以及

估计部,通过由基矢量的线性组合来表示对由多种染色材料染色的颗粒进行荧光测量所获得的多重染色数据的方式来估计所述线性组合的组合系数,所述基矢量的线性组合表示对应于每种染色材料的单染色数据的分布。

2.根据权利要求1所述的信息处理装置,

其中,所述估计部通过所述基矢量按照规定概率分布发生的方式对所述基矢量建模,并通过使用根据所述单染色数据估计的所述基矢量来估计所述组合系数。

3.根据权利要求1所述的信息处理装置,

其中,所述测试部通过t测试确定所述单染色数据和所述未染色数据之间没有差异的零假设是否在规定的显著水平P下被驳回。

4.根据权利要求1所述的信息处理装置,还包括:

集群部,在未染色颗粒和受到单染色的颗粒均包括在受荧光测量的样本中的情况下,群聚包括所述未染色颗粒的未染色集群和包括受到单染色的颗粒的单染色集群,

其中,所述测试部通过使用对应于所述未染色集群的观测数据作为所述未染色数据和使用对应于所述单染色集群的观测数据作为所述单染色数据来进行统计测试。

5.根据权利要求2所述的信息处理装置,

其中,所述估计部通过除了从所述染色材料中射出的荧光之外的光的强度分量按照不同于所述规定概率分布的另一规定概率分布发生的方式对所述强度分量建模,并通过使用根据所述单染色数据估计的所述基矢量来估计所述组合系数。

6.根据权利要求1所述的信息处理装置,

其中,所述染色材料为荧光染料。

7.根据权利要求1所述的信息处理装置,所述染色材料由发射规定波长的激光束的激光源照射来释放荧光。

8.一种信息处理方法,包括:

针对一频带,对单染色数据和未染色数据进行统计测试以用于比较,所述单染色数据通过对受到具有规定荧光特性的染色材料的单染色的颗粒进行荧光测量来获得,所述未染色数据通过对未染色颗粒进行荧光测量来获得;

在所述频带的所述单染色数据和所述未染色数据之间没有显著差异的情况下,将所述单染色数据设置为0或规定值;以及

通过由基矢量的线性组合表示通过对由多种染色材料染色的颗粒进行荧光测量所获得的多重染色数据来估计所述线性组合的组合系数,所述基矢量的线性组合表示对应于每种染色材料的单染色数据的分布。

9.一种程序,用于使计算机执行以下项:

测试功能,针对一频带,对单染色数据和未染色数据进行统计测试用于比较,所述单染色数据通过对受到具有规定荧光特性的染色材料的单染色的颗粒进行荧光测量来获得,所述未染色数据通过对未染色颗粒进行荧光测量来获得;

遮蔽处理功能,在所述频带的所述单染色数据和所述未染色数据之间没有显著差异的情况下,将所述单染色数据设置为0或规定值;以及

估计功能,通过由基矢量的线性组合来表示对由多种染色材料染色的颗粒进行荧光测量所获得的多重染色数据来估计所述线性组合的组合系数,所述基矢量的线性组合表示对应于每种染色材料的单染色数据的分布。

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