[发明专利]信号生成装置、测定装置、漏电检测装置及信号生成方法

权利要求书

1.一种信号生成装置，其特征在于，包括：

第1比较器，其被输入在被测定电路中检测出的电压波形，生成对应于所述电压波形的正负极性的第1逻辑信号；

第2比较器，其被输入在所述被测定电路中检测出的电流波形，生成对应于所述电流波形的正负极性的第2逻辑信号；

第1运算部，其输出对应于所述第1逻辑信号与所述第2逻辑信号的逻辑异或的第3逻辑信号；

相位转换部，其利用过零检测部在所述第1逻辑信号变化时生成过零点，存储所生成的所述过零点间的时间，在距离下一个过零点的时间为已存储的时间的一半以下的期间，通过反转所述第1逻辑信号，进行所述第1逻辑信号的相位转换生成相位转换信号，

第2运算部，其输出对应于所述相位转换信号与所述第2逻辑信号的逻辑异或的第4逻辑信号；

对检测到的所述电流波形进行全波整流的全波整流部；以及

转换部，其输出量子化值，作为基于基准CLK脉冲在规定期间内对连续型ΔΣADC的输出进行计数的计数个数相对于所述规定期间内的基准CLK脉冲的CLK数的比率，该量子化值对应于与采用所述连续型ΔΣADC对通过所述全波整流部全波整流了的所述电流波形进行量子化转换后得到的该电流波形的所述规定期间内的电流波形的平均值；

所述第3逻辑信号、所述第4逻辑信号和所述量子化值被输出到测定部，该测定部输出I计数值、Icos计数值和Isin计数值，所述I计数值对应于对在从由所述过零检测部生成的所述下一个过零点开始到更下一个过零点为止的半波期间被输出的所述量子化值进行计数得到的电流I，所述Icos计数值对应于以基于所述第3逻辑信号的计数方法对在所述半波期间被输出的所述量子化值进行计数得到的电流Icosθ，所述Isin计数值对应于以基于所述第4逻辑信号的计数方法对在所述半波期间被输出的所述量子化值进行计数得到的电流Isinθ。

2.一种测定装置，其特征在于，包括：

如权利要求1所述的信号生成装置以及所述测定部。

3.一种漏电检测装置，其特征在于，包括：如权利要求2所述的测定装置，以及基于所述测定部输出的值，检测所述被测定电路中的漏电的判定部。

4.一种信号生成方法，其特征在于，包括如下步骤：

生成对应于在被测定电路中被检测出的电压波形的正负极性的第1逻辑信号；

生成对应于在所述被测定电路中被检测出的所述电流波形的正负极性的第2逻辑信号；

输出对应于所述第1逻辑信号与所述第2逻辑信号的逻辑异或的第3逻辑信号；

利用过零检测部在所述第1逻辑信号变化时生成过零点，存储所生成的所述过零点间的时间，在距离下一个的过零点的时间为已存储的时间的一半以下的期间，通过反转所述第1逻辑信号，进行所述第1逻辑信号的相位转换生成相位转换信号；

输出对应于所述相位转换信号与所述第2逻辑信号的逻辑异或的第4逻辑信号；

对检测到的所述电流波形进行全波整流；以及

输出量子化值，作为基于基准CLK脉冲在规定期间内对连续型ΔΣADC的输出进行计数的计数个数相对于所述规定期间内的基准CLK脉冲的CLK数的比率，该量子化值对应于采用所述连续型ΔΣADC对经过全波整流的所述电流波形进行量子化转换后得到的该电流波形的所述规定期间内的电流波形的平均值；

所述第3逻辑信号、所述第4逻辑信号和所述量子化值被输出到测定部，该测定部输出I计数值、Icos计数值和Isin计数值，所述I计数值对应于对在从由所述过零检测部生成的所述下一个过零点开始到更下一个过零点为止的半波期间被输出的所述量子化值进行计数得到的电流I，所述Icos计数值对应于以基于所述第3逻辑信号的计数方法对在所述半波期间被输出的所述量子化值进行计数得到的电流Icosθ，所述Isin计数值对应于以基于所述第4逻辑信号的计数方法对在所述半波期间被输出的所述量子化值进行计数得到的电流Isinθ。