[发明专利]一种新的针对TIADC系统时间误差的估计方法有效
申请号: | 201310193800.5 | 申请日: | 2013-05-22 |
公开(公告)号: | CN103326724B | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | 刘素娟;王俊山;齐佩佩;姜文姝;张美慧 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司11203 | 代理人: | 张慧 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 针对 tiadc 系统 时间 误差 估计 方法 | ||
1.一种针对TIADC系统时间误差的估计方法,其特征在于包括以下步骤:
步骤一,根据精度要求确定样本数m,设置真实时间误差t(k),k=1,2,...,M,M为系统的通道数;
步骤二,求每个通道采样点数和相对时间误差的拟合曲线方法如下:
(1)设采样点数为x,相对时间误差为y;取m个不同的采样点数xi,i=1,2,…,m,依据公式(1)~(3)求m个相对时间误差yi,i=1,2,…m;公式如下:
式中,ti(0)为时间失配误差估计结果,N为采样点数,t(k)为验证算法设置的真实的时间失配误差;yk[n]为M通道的TIADC系统第k路实际采样量化输出值,其中yk[n]=x((nM+k)Ts+tk),式中,k=1,2,…,M,为通道序号,n为采样时刻,yk[n]为采样时刻为n时第k通道的量化输出值,x(t)为等转换的模拟电压信号,tk为TIADC系统的时间失配误差,Ts为TIADC系统的采样周期;
(2)令X=lnx,Y=lny,求Xi,Yi;
(3)解下面的方程组,求A、B的值:
(4)由A=lna1,B=b1,求a1、b1的值,得到拟合曲线
步骤三,根据精度要求由步骤二求得的拟合曲线确定采样点数;
步骤四,求每个通道迭代次数和相对时间误差的拟合曲线方法如下:
(1)设迭代次数为x,相对时间误差为y;取m个不同的迭代次数xi,i=1,2,…,m,依据公式(5)~(7)求m个相对误差yi,i=1,2,…m;公式如下:
式中,l为迭代次数,Ts为采样周期;
(2)令X=lnx,Y=lny,求Xi,Yi;
(3)解方程组(4),求A、B的值;
(4)由A=lna2,B=b2可求得a2、b2的值,得到拟合曲线
步骤五,根据精度要求由步骤四求得的拟合曲线确定迭代次数;
步骤六,根据迭代次数依据公式(5)求解时间失配误差;
步骤七,如果需要改变TIADC系统的精度,转步骤三,重复步骤三~六,重新确定采样点数和迭代次数,由公式(5)求时间失配误差;
步骤八,输出计算的时间失配误差到后端补偿模块。
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