[发明专利]长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法

权利要求书

1.长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，寻找电子产品的最薄弱功能模块；

步骤2，设计加速退化试验；

设计包括应力类型、应力水平个数、应力水平的大小和测量时间；

步骤3，数据统计分析；

步骤3.1，通过数据折算将加速退化数据转化成恒定应力加速退化数据；

步骤3.2，利用恒定应力加速退化数据拟合得到性能退化轨迹；

步骤3.3，根据性能失效阈值和性能退化轨迹得到伪失效寿命，将每个应力水平所对应的伪失效寿命数据进行分布假设检验，以确定伪失效寿命数据服从的分布函数；

步骤3.4，确定加速模型；

根据伪失效寿命数据服从的分布函数，采用相应的评估方法估计各应力条件下伪失效寿命数据服从的分布函数的分布参数，利用应力水平和该应力水平对应的寿命分布函数中的特征寿命值，得到加速模型；

步骤4，确定可靠性模型；

将正常使用应力水平带入到加速模型中，得到正常应力水平下的寿命特征值，确定可靠性模型，并求出可靠性指标。

2.如权利要求1所述的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法，其特征在于，所述步骤1中采用FMEA法，以功能模块为最低分析层次对电子产品进行分析，找出电子产品的最薄弱功能模块，代替电子产品进行试验。

3.如权利要求1所述的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法，其特征在于，所述步骤3.1中数据折算方式包括时间折算和退化特征量折算。

4.如权利要求1所述的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法，其特征在于，伪失效寿命数据服从指数分布或者威布尔分布。

5.如权利要求4所述的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法，其特征在于，所述步骤3.4中若伪失效寿命数据服从指数分布                                                ，采用极大似然估计方法估计各应力条件下指数分布函数的分布参数；若伪失效寿命数据服从威布尔分布，采用最小二乘法估计各应力条件下威布尔分布函数的分布参数和；加速模型采用Arrhenius模型。

6.如权利要求4所述的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法，其特征在于，所述步骤4中当伪失效寿命数据服从指数分布时，可靠性模型为：

     ；

当伪失效寿命数据服从威布尔分布时，可靠性模型为：

其中，为威布尔分布的刻度参数，m是威布尔分布的形状参数，且形状参数m的计算方式为各伪失效寿命函数中形状参数的平均值。