[发明专利]一种统计板带表面缺陷密度的方法有效

专利信息
申请号: 201310200367.3 申请日: 2013-05-27
公开(公告)号: CN103316931A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 娄德诚;孔凡庆;贾松;王树岗;任君茹 申请(专利权)人: 首钢总公司
主分类号: B21B38/00 分类号: B21B38/00
代理公司: 北京市德权律师事务所 11302 代理人: 刘丽君
地址: 100041 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 统计 表面 缺陷 密度 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于冷轧板带生产技术领域,特别涉及一种统计板带表面缺陷密度的方法。

背景技术

板带在生产过程中不可避免的会产生一定密度的表面缺陷,为了控制和减少缺陷,同时需要对表面质量状况进行分级判定,必须采用一定的方法统计缺陷出现的位置的密度,以便于采取相应的改进措施和进行质量等级评定。目前的板带表面缺陷统计方法,只对整板面缺陷密度进行统计,当板面的尺寸变化时,无法进行不同尺寸板带上缺陷的对比统计分析,同时无法统计缺陷在板带上出现的相对位置和发生周期,影响对缺陷发生源的判断和消除,以及对质量的判级。对于连续生产线,批量出现缺陷产品将会造成较大损失。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种统计板带表面缺陷密度的方法,解决了现有技术无法统计板带表面缺陷密度和缺陷位置的技术问题。

为解决上述技术问题,本发明提供了一种统计板带表面缺陷密度的方法,具体包括如下步骤:

步骤101:将板带表面划分为多个区域;

步骤102:用测量工具在一所述区域内画出检查范围,在所述检查范围内统计缺陷数量;

步骤103:根据所述检查范围的面积和所述缺陷数量,计算得到一所述区域内单位面积的缺陷密度;

步骤104:重复步骤101-步骤103,计算得到所述多个区域的单位面积的缺陷密度。

步骤105:分别将所述多个区域的单位面积的缺陷密度进行横向和纵向比对,归纳得出同一缺陷在所述板带的位置和周期。

进一步地,在所述步骤102中,所述测量工具包括基尺、滑动块和滑动尺,所述滑动尺通过所述滑动块固定在所述基尺上。

进一步地,所述基尺为带有刻度的基尺。

进一步地,在所述步骤103中,所述得到一区域内单位面积的缺陷密度的方法为:将所述检查范围内的缺陷数量除以所述检查范围的面积。

本发明提供的统计板带表面缺陷密度的方法,通过测量工具,可以多次调节统计面积的大小,并可直接读出统计面积值;同时,通过多块区域的划分,对于不同区域的单位面积内的缺陷密度进行纵向对比和横向对比,可以得出缺陷的发生位置和发生周期,并可以简单并快速地对冷轧板、退火板、镀锌板、镀锡板、镀铝板、涂漆板等进行表面缺陷位置和密度的检测和统计。

附图说明

图1为本发明实施例提供的统计板带表面缺陷密度的方法步骤图;

图2为本发明实施例提供的划分检查范围示意图;

图3为本发明实施例提供的统计板带表面缺陷密度的测量工具结构示意图;

附图标记:

1、左侧边缘线,2、中心线,3、右侧边缘线,4、左侧边部区,5、左侧中间区,6、中心位置区,7、右侧边部区,8、右侧中间区,9、滑动块,10、滑动尺,11、基尺。

具体实施方式

参见图1和图2,本发明实施例提供的一种统计板带表面缺陷密度的方法,具体包括如下步骤:

步骤101:板带表面划分为多个区域;

将板带表面划分左侧边部区4、左侧中间区5、中心位置区6、右侧中间区8、右侧边部区7;该5个区域划分方法为:左侧边部区4的纵向分界线距离左侧边缘线1的位置为200mm,横向分界线间距400mm;中心位置区6纵向分界线距离中心线2的位置为200mm,横向分界线间距400mm;右侧边部区7的纵向分界线距离右侧边缘线3的位置为200mm,横向分界线间距400mm。

步骤102:统计缺陷数量;

用测量工具在左侧边部区4内画出检查范围,在检查范围内统计缺陷数量,参见图3,该测量工具包括带刻度的基尺11、滑动块9和滑动尺10,滑动尺10通过滑动块9固定在带刻度的基尺11上,该测量工具可以调节检查范围面积的大小,可直接读出检查范围面积值;

步骤1021:将带刻度的基尺11放置在板带上的检查位置上;

步骤1022:通过移动滑动块9调整滑动尺10的位置,读取带刻度的基尺11上的刻度,可以得到检查范围的面积值;

步骤1023:用笔沿着带刻度的基尺11和滑动尺10的内侧,在板带上画出检查范围,在本发明实施例中,检查范围的面积为100cm2、200cm2、400cm2、900cm2四种。

步骤103:计算一区域缺陷密度;

将左侧边部区4的检查范围内统计出的缺陷数量除以检查范围的面积,计算得到左侧边部区4内单位面积的缺陷密度。

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