[发明专利]射频屏蔽测试室

权利要求书

1.射频屏蔽测试室（10），其包括：测试室框架（10A）（代理人注，应为100），其用来界定和围绕所述测试室的腔室空间（100）（代理人注，应为10A）；和室门（300），其通过铰链结构（200）连接到所述测试室框架，并用来从所述测试室前缘边侧开启和关闭所述测试室，

其特征在于：所述室门（300）除包括前壁（302）外，至少在其缘边之一上包括侧面（311），所述侧面（311）在所述测试室深度方向，作为由所述测试室（100）所包括的侧面（101）的延伸，构成所述测试室的侧面的一部分；

并且，位于所述测试室框架（100）和所述室门（300）之间的铰链结构（200）在所述测试室框架（100）侧通过基本水平的连接结构（201,201a,201b）与所述测试室框架（100）连接，所述铰链结构（200）被设置成引导所述室门（300）相对于所述测试室框架（100）上升和从其升举位置下降。

2.根据权利要求1所述的测试室，其特征在于：位于所述测试室框架（100）和所述室门（300）之间的铰链结构（200）包括铰接臂结构（221,222），所述铰接臂结构（221,222）具有至少一臂体（221,222），所述铰链臂结构通过所述水平连接结构（201,201a,201b）与所述测试室框架（100）连接，且通过连接体（201c,201d）与所述室门（300）连接。

3.根据权利要求1所述的测试室，其特征在于：所述室门（300）在其两缘边都包括侧面（311,312），其中，所述侧面（311,312）在所述测试室深度方向（D），作为由所述测试室框架（100）所包括的侧面（101,102）的延伸，构成所述测试室的侧面的一部分。

4.根据权利要求1所述的射频屏蔽测试室，其特征在于：在所述测试室（100）的深度方向（D），由所述室门（300）所包括的侧面（311）的长度是所述测试室侧面总长度的至少20%。

5.根据权利要求1所述的测试室，其特征在于：在所述测试室的前缘边侧，由所述室门（300）所包括的侧面的高度超过所述测试室侧面总高度的50%。

6.根据权利要求1或5所述的射频屏蔽测试室，其特征在于：在所述测试室的前缘边侧，所述测试室侧面的上位部分至少主要由所述室门（300）的侧面（311）形成。

7.根据权利要求1或5所述的测试室，其特征在于：在所述测试室的前缘边侧，所述测试室下位部分至少主要由所述测试室框架（100）的侧面（101,102）构成。

8.根据权利要求7所述的测试室，其特征在于：在所述测试室的前缘边侧，在所述测试室的下位部分，在所述测试室框架（100）的侧面（101,102）之间，配设有所述测试室框架（100）的前下壁（104,104a,104b）（代理人注，应为106，106a，106b），在所述室门处于关闭状态时，所述前下壁（104,104a,104b）（代理人注，应为106，106a，106b）位于所述室门（300）的前壁（302）下方。