[发明专利]射频屏蔽测试室在审
申请号: | 201310200433.7 | 申请日: | 2013-05-25 |
公开(公告)号: | CN104114005A | 公开(公告)日: | 2014-10-22 |
发明(设计)人: | 冉嗒库帕日·塔漂;肋巴咖日·约拿 | 申请(专利权)人: | PKC电子有限公司 |
主分类号: | H05K7/16 | 分类号: | H05K7/16;G01R1/18;G01R1/04 |
代理公司: | 上海方本律师事务所 31269 | 代理人: | 汪玉平;余全平 |
地址: | 芬兰拉*** | 国省代码: | 芬兰;FI |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射频 屏蔽 测试 | ||
1.射频屏蔽测试室(10),其包括:测试室框架(10A)(代理人注,应为100),其用来界定和围绕所述测试室的腔室空间(100)(代理人注,应为10A);和室门(300),其通过铰链结构(200)连接到所述测试室框架,并用来从所述测试室前缘边侧开启和关闭所述测试室,
其特征在于:所述室门(300)除包括前壁(302)外,至少在其缘边之一上包括侧面(311),所述侧面(311)在所述测试室深度方向,作为由所述测试室(100)所包括的侧面(101)的延伸,构成所述测试室的侧面的一部分;
并且,位于所述测试室框架(100)和所述室门(300)之间的铰链结构(200)在所述测试室框架(100)侧通过基本水平的连接结构(201,201a,201b)与所述测试室框架(100)连接,所述铰链结构(200)被设置成引导所述室门(300)相对于所述测试室框架(100)上升和从其升举位置下降。
2.根据权利要求1所述的测试室,其特征在于:位于所述测试室框架(100)和所述室门(300)之间的铰链结构(200)包括铰接臂结构(221,222),所述铰接臂结构(221,222)具有至少一臂体(221,222),所述铰链臂结构通过所述水平连接结构(201,201a,201b)与所述测试室框架(100)连接,且通过连接体(201c,201d)与所述室门(300)连接。
3.根据权利要求1所述的测试室,其特征在于:所述室门(300)在其两缘边都包括侧面(311,312),其中,所述侧面(311,312)在所述测试室深度方向(D),作为由所述测试室框架(100)所包括的侧面(101,102)的延伸,构成所述测试室的侧面的一部分。
4.根据权利要求1所述的射频屏蔽测试室,其特征在于:在所述测试室(100)的深度方向(D),由所述室门(300)所包括的侧面(311)的长度是所述测试室侧面总长度的至少20%。
5.根据权利要求1所述的测试室,其特征在于:在所述测试室的前缘边侧,由所述室门(300)所包括的侧面的高度超过所述测试室侧面总高度的50%。
6.根据权利要求1或5所述的射频屏蔽测试室,其特征在于:在所述测试室的前缘边侧,所述测试室侧面的上位部分至少主要由所述室门(300)的侧面(311)形成。
7.根据权利要求1或5所述的测试室,其特征在于:在所述测试室的前缘边侧,所述测试室下位部分至少主要由所述测试室框架(100)的侧面(101,102)构成。
8.根据权利要求7所述的测试室,其特征在于:在所述测试室的前缘边侧,在所述测试室的下位部分,在所述测试室框架(100)的侧面(101,102)之间,配设有所述测试室框架(100)的前下壁(104,104a,104b)(代理人注,应为106,106a,106b),在所述室门处于关闭状态时,所述前下壁(104,104a,104b)(代理人注,应为106,106a,106b)位于所述室门(300)的前壁(302)下方。
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