[发明专利]一种位置可精确校准的上下探头检测系统及其校准方法

权利要求书

1.一种位置可精确校准的上下探头检测系统，其特征在于下探头可在检测平台上任意移动，上探头可升降且升降过程中精确沿竖直方向，上下探头的接触面设有圆环凹槽的位置可精确校准的上下探头检测系统。

2.依据权利要求书1所述的上下探头检测系统，其特征在于检测平台是一个矩形，且在检测平台上，有横向和纵向各两根限位杆，限位杆两端装有滑轮可在检测平台上在一个方向上移动。

3.依据权利要求书1所述的上下探头检测系统，其特征在于检测半台上的横向和纵向的四个限位杆共同支撑着下探头，通过限位杆的移动，下探头被摆放在检测平台中的任意位置。当找到与上探头对齐的位置时，用固定夹固定限位杆，从而固定下探头位置。

4.依据权利要求书1所述的上下探头检测系统，其特征在于上探头是由电动葫芦通过细钢丝绳牵引，其中钢丝绳经过两个定滑轮后改变牵引力的方向。

5.依据权利要求书1所述的上下探头检测系统，其特征在于整个牵引机构和上吸盘被相连的两个竖直方向和个水平方向的圆管包裹，圆管的直径须大于上探头的最大直径。

6.依据权利要求书1所述的上下探头检测系统，其特征在于包裹上探头的圆管内侧设两到卡槽，槽距为1～5cm。

7.依据权利要求书1所述的上下探头检测系统，其特征在于上探头限位器套在上探头身上，限位器两个触角正好卡在内管内侧的两个卡槽内，使上探头在上升和下降的线路固定，不因外因产生不必要的位移。

8.依据权利要求书1所述的上下探头检测系统，其特征在于上探头限位器最长轴等于圆管的内径，限位器中间的孔的直径等于上探头的最小外径；限位器触角的宽度为1～5cm且与卡槽宽度保持一致；限位器的触角采用与钢摩擦系数最小的聚四氟乙烯，而接近中间的孔处采用与钢摩擦系数最大的橡胶。

9.依据权利要求书1所述的上下探头检测系统，其特征在于上下探头接触面各自设置一个圆环凹槽，尺寸介于探头最大外径和开口的直径之间与校准环块尺寸保持一致。

10.一种位置可精确校准的上下探头检测系统的校准方法，其特征在于包括以下步骤：

(1)将上探头限位器装到上探头上，然后将钢丝绳系到上探头上；

(2)开动电动葫芦，使上探头上升，将上探头限位器触角卡入圆管卡槽内部，手动调整上探头与上探头限位器之间的相对位置，确保上探头接触被测样品时，上探头限位器触角仍然处在圆管卡槽之中；

(3)将校准环块放入下探头的圆环凹槽；

(4)倒置下探头于限位杆上，初步选取适当位置，用横纵两个方向的四个限位杆固定，并用固定夹固定限位杆；

(5)开动电动葫芦，上探头下降的时候，校准环块突出的部分如果能够正好进入上探头的圆环凹槽的时候即校准完成，否则需要重新调整下探头的位置，在重复上一步骤；

(6)直至校准完成。