[发明专利]一种判别多晶硅薄膜无序度的方法无效
申请号: | 201310205292.8 | 申请日: | 2013-05-27 |
公开(公告)号: | CN103323444A | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 王权;邵盈;张艳敏;毛伟;胡然;刘小颖;闫超 | 申请(专利权)人: | 江苏大学 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 楼高潮 |
地址: | 212013 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 判别 多晶 薄膜 无序 方法 | ||
1.一种判别多晶硅薄膜无序度的方法,其特征是:利用拉曼光谱对多晶硅薄膜进行表征,获得多晶硅薄膜拉曼散射峰的频移值和半高宽,计算出多晶硅薄膜的无序度,即
式中C即为无序度,=520 cm-1为理想多晶硅薄膜拉曼散射峰的峰位,
为实验获得的多晶硅薄膜拉曼散射峰的峰位,为拉曼散射峰的半高宽,利用上
述公式,能够计算出所制备多晶硅薄膜的无序度。
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