[发明专利]加速寿命测试过温报警电路有效

专利信息
申请号: 201310211040.6 申请日: 2013-05-30
公开(公告)号: CN104215341B 公开(公告)日: 2017-06-16
发明(设计)人: 周明杰;胡波 申请(专利权)人: 深圳市海洋王照明工程有限公司;海洋王照明科技股份有限公司
主分类号: G01K1/02 分类号: G01K1/02
代理公司: 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司44232 代理人: 周惠来,徐恕
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 加速 寿命 测试 报警 电路
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种报警电路,尤其涉及一种加速寿命测试过温报警电路。

背景技术

照明行业在现代社会应用非常广泛且重要,在各行各业使用的照明产品都各不相同,目的都是为了提供更高亮度来提高生产率和生产工人们之间的安全,因此,对照明质量要求也就越来越高,对灯具产品的可靠性要求也就越来越高。尤其是对电子产品,其寿命受温度应力和电应力影响特别大,因此根据电子产品加速寿命测试,驱动和研发灯具都需要进行加速寿命测试,在之前加速寿命测试过程中由于测试温箱内部要点灯,将测试温箱门关闭后灯具点亮大量发热,使测试温箱不能够恒温的情况下箱体内部温度就会偏高,导致烧坏样品而测试数据不准确现象,又得重新打样样品进行测试,浪费人力,物料,并且增加了产品的研发周期,无形的也增加了产品研发的成本。

而现在测试过程中都是由人工频繁进行监控,监控过程中需要随时手工控制测试温箱门,当温箱温度过高的时候就将测试温箱门开大一点,使温度降下来。然后,再将测试温箱门关到一定位置进行保证温度维持在所需测试温度,这样操作会增大工作人员的工作强度,工作效率低,测试精度不高,从而增加了样品的损坏率。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于克服上述现有技术存在的不足,而提出一种加速寿命测试过温报警电路,能够解决现有技术中的寿命测试需要测试人员时刻监控从而降低测试效率和测试精度以及样品损坏率高的问题。

为解决上述技术问题,本发明提出一种加速寿命测试过温报警电路,其包括:检测单元,其用于检测测试温箱的温度,其包括输入端以及输出端,检测检测单元的输入端连接第一电源;控制单元,其用于控制测试灯具与第二电源的连接,其包括第一输入端、第二输入端以及输出端,控制单元的第一输入端连接第一电源,控制单元的第二输入端连接检测单元的输出端;报警单元,其受控于控制单元,报警单元连接控制单元的输出端;其中,当检测单元检测到测试温箱的温度超过设定的测试温度时,控制单元控制测试灯具与第二电源断开连接,并控制报警单元报警。

优选地,检测单元包括调节电阻、热敏电阻以及分压电阻,调节电阻、热敏电阻以及分压电阻依次串联在检测单元的输入端与地之间,热敏电阻与分压电阻的连接处连接检测单元的输出端。

优选地,调节电阻与热敏电阻的阻值之和为分压电阻阻值的两倍。

优选地,报警单元包括一蜂鸣器,蜂鸣器的输入端连接控制单元的输出端,蜂鸣器的输出端接地。

优选地,控制单元包括控制器、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、反相器、开关管以及继电器,控制器包括第一输入端、第二输入端、第三输入端、第四输入端、第五输入端、第一输出端、第二输出端以及第三输出端,继电器包括常开开关以及常闭开关,开关管包括输入端、输出端以及控制端;第一输入端以及第二输入端连接控制单元的第一输入端,第一电阻与第一电容并联在控制器的第一输入端与地之间,控制器的第三输入端以及第四输入端连接第一电阻与第一电容的连接处,控制器的第五输入端连接控制单元的第二输入端,控制器的第一输出端以及第二输出端接地,控制器的第三输出端连接第二电阻后连接反相器,反相器的输出端连接开关管的控制端,开关管的输出端接地,常开开关连接在控制单元的第一输入端与输出端之间,常闭开关连接在第二电源以及测试灯具之间。

优选地,开关管为MOS管,MOS管的栅极连接开关管的控制端,MOS管的源极连接开关管的输入端,MOS管的漏极连接开关管的输出端。

优选地,加速寿命测试过温报警电路还包括依次连接的变压器、整流器、第一滤波电容、稳压管、第二滤波电容,第一电源经过变压器变压、整流器整流、第一滤波电容滤波、稳压管稳压、第二滤波电容滤波后,输出端第二电源。

优选地,加速寿命测试过温报警电路还包括两个熔断器,熔断器连接在第一电源以及测试灯具之间。

优选地,加速寿命测试过温报警电路还包括接线排,测试灯具通过接线排连接第二电源。

优选地,控制器的型号为NE555。

与现有技术相比,本发明的加速寿命测试过温报警电路,通过检测单元、控制单元以及报警单元在测试过程中进行控制,能够使得测试过程不需要测试人员时刻进行监控,超过设定温度时能够将电源与测试灯具断开,并且由报警单元报警,从而保护样品,也提高了测试人员的测试效率和测试数据的准确性,降低样品的损坏率。

附图说明

图1是本发明的加速寿命测试过温报警电路的电路结构图。

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