[发明专利]用于CMOS温度传感器的温度校准装置及方法有效
申请号: | 201310211368.8 | 申请日: | 2013-05-30 |
公开(公告)号: | CN103245435A | 公开(公告)日: | 2013-08-14 |
发明(设计)人: | 李鹏;张亮;张辉;陈丽;陈宁 | 申请(专利权)人: | 上海贝岭股份有限公司 |
主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00 |
代理公司: | 北京金信立方知识产权代理有限公司 11225 | 代理人: | 刘锋;刘世杰 |
地址: | 200233 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 cmos 温度传感器 温度 校准 装置 方法 | ||
1.一种用于CMOS温度传感器的温度校准装置,其特征在于,包括CMOS感温电路、数据处理单元、斜率寄存器、截距寄存器、温度值寄存器以及标准测温计,其中:
该CMOS感温电路和该数据处理单元相连接,其具有一个温度表征预定变量,并输出温度读出值,该温度读出值与该预定温度表征量为预定线性关系;
该斜率寄存器和该数据处理单元相连接,用于寄存斜率默认值或斜率校准值;
该截距寄存器和该数据处理单元相连接,用于寄存截距默认值或截距校准值;
该标准测温计与该数据处理单元相连接,用于确定两个测温点;
该温度值寄存器与该数据处理单元相连接,用于寄存在该两个测温点对应的该CMOS感温电路的两个温度读出值;
该数据处理单元用于根据该两个实际温度输出和该预定线性关系,确定对应的两个温度表征量输出值,并根据该两个测温点和该两个温度表征量输出值,进行实际线性关系拟合,确定该斜率校准值和该截距校准值。
2.根据权利要求1所述的用于CMOS温度传感器的温度校准装置,其特征在于,所述数据处理单元为微处理器。
3.一种用于CMOS温度传感器的温度校准方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
S100,确定该CMOS温度传感器的温度表征预定变量和温度读出值变量的预定线性关系,该预定线性关系包括斜率默认值和截距默认值;
S200,在两个测温点下,利用CMOS温度传感器的两个温度读出值,并根据该预定线性关系,确定对应的两个温度表征量输出值;
S300,根据该两个测温点和该两个温度表征量输出值,进行实际线性关系拟合,确定斜率校准值和截距校准值。
4.根据权利要求3所述的用于CMOS温度传感器的温度校准方法,其特征在于,所述预定线性关系为:
TOUT=A.μ+B;
其中,TOUT为温度读出值变量,μ为温度表征预定变量,A为斜率默认值,B为截距默认值。
5.根据权利要求4所述的用于CMOS温度传感器的温度校准方法,其特征在于,所述两个温度表征量输出值分别为:
其中,μ1、μ2分别为所述两个温度表征值输出值,T1、T2分别为所述两个测温点下该CMOS温度传感器的两个温度读出值。
6.根据权利要求5所述的用于CMOS温度传感器的温度校准方法,其特征在于,所述斜率校准值和截距校准值为:
其中,AC为所述斜率校准值,BC为所述截距校准值,TW1、TW2为所述两个测温点。
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