[发明专利]粒子分析仪的光学系统

权利要求书

1.粒子分析仪的光学系统,包括：

前光组件，用于提供照射被检测粒子的光束；

流动室，用于提供被检测粒子被光束照射的场所；

散射光收集组件，用于接收被检测粒子被光束激发后的散射光，其特征在于所述散射光收集组件包括：

低角度光阑，所述低角度光阑的通光孔设置在与所述散射光光轴的夹角为第一角度范围的散射光的光路上；

低角度光电感应装置，其设置在第一角度范围的散射光经低角度光阑后出射的光路上，用于感应第一角度范围的散射光并输出电信号；

中角度光阑，所述中角度光阑的通光孔设置在与所述散射光光轴的夹角为第二角度范围的散射光的光路上；

中角度光电感应装置，其设置在第二角度范围的散射光经中角度光阑后出射的光路上，用于感应第二角度范围的散射光并输出电信号；

大角度光阑，所述大角度光阑的通光孔设置在与所述散射光光轴的夹角为第三角度范围的散射光的光路上；

大角度光电感应装置，其设置在第三角度范围的散射光经大角度光阑后出射的光路上，用于感应第三角度范围的散射光并输出电信号；

所述第二角度范围大于第一角度范围，第三角度范围大于第二角度范围。

2.如权利要求1所述的粒子分析仪的光学系统，其特征在于，所述低角度光阑和中角度光阑整合在第一光阑板上，第一光阑板设置在与散射光光轴垂直的平面上，所述大角度光阑相对于散射光光轴倾斜设置，所述低角度光电感应装置和中角度光电感应装置分别与其对应的低角度光阑和中角度光阑平行设置。

3.如权利要求2所述的粒子分析仪的光学系统，其特征在于，所述低角度光阑的通光孔的形状为中间设有挡光条的第一角度范围散射光的散射圆，低角度光阑的通光孔的圆心位于光轴上。

4.如权利要求3所述的粒子分析仪的光学系统，其特征在于，所述中角度光阑的通光孔的形状为由直边、与所述直边相对的第二角度范围中最大角散射光的散射圆弧和与所述直边垂直的两平行边围合成的形状，所述直边与第二角度范围最小角散射光的散射圆相切；或所述中角度光阑的通光孔的形状为由直边和第二角度范围中最大角散射光的散射圆弧围合成的形状，所述直边与第二角度范围最小角散射光的散射圆相切。

5.如权利要求4所述的粒子分析仪的光学系统，其特征在于，所述挡光条的宽度等于1°散射光散射圆的直径，第一角度范围为1°～4°，第二角度范围为6°～20°，第三角度范围为22°～42°，所述低角度光电感应装置、中角度光电感应装置和大角度光电感应装置分别包括矩形的光电二极管面元，所述低角度光电感应装置和中角度光电感应装置整合为一体。

6.如权利要求2-5中任一项所述的粒子分析仪的光学系统，其特征在于，所述大角度光阑相对于散射光光轴成30°～60°角设置，所述大角度光电感应装置与大角度光阑平行设置。

7.如权利要求6所述的粒子分析仪的光学系统，其特征在于，所述大角度光阑相对于散射光光轴成45°角或基本成45°角设置。

8.如权利要求7所述的粒子分析仪的光学系统，其特征在于，还包括第一结构件和第二结构件，所述第一光阑板、低角度光电感应装置和中角度光电感应装置安装在第一结构件上，大角度光阑和大角度光电感应装置安装在第二结构件上，所述第二结构件具有与大角度光阑呈45°的倒角面，所述倒角面贴合在第一光阑板上，以使大角度光阑与散射光光轴成45°。

9.如权利要求1至8中任一项所述的粒子分析仪的光学系统，其特征在于，被检测粒子被光束激发后发出的散射光直接到达低角度光阑、中角度光阑和大角度光阑，并通过低角度光阑、中角度光阑和大角度光阑后分别直接到达低角度光电感应装置、中角度光电感应装置和大角度光电感应装置。