[发明专利]一种测试薄液膜厚度的装置有效
申请号: | 201310215703.1 | 申请日: | 2013-06-03 |
公开(公告)号: | CN103267488A | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
发明(设计)人: | 董超芳;栗丽;姚纪政;肖葵;吴俊升;雷浩;李晓刚 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01N17/00 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 皋吉甫 |
地址: | 100083 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 薄液膜 厚度 装置 | ||
1.一种测试薄液膜厚度的装置,其特征在于:包括载物台(2)、螺旋测微器(3)、激光发射器(9)、激光接收器(6)、凸透镜(7)、电流表(8)、位移控制台(1)、电源(10)组成,所述的位移控制台(1)上安装有载物台(2)和螺旋测微器(3),其两端分别放置激光发射器(9)和激光接收器(6),两者要完全对应,在激光发射器(9)和试样(4)之间放1-3个凸透镜(7),激光发射器(9)与电源(10)连接,激光接收器(6)与电流表(8)连接,电源(10)、激光发射器(9)、激光接收器(6)和电流表(8)构成回路,通过激光接收器(6)将接收到的光信号的强弱转变为电流信号,具体实施步骤为:
将试样(4)放在载物台(2)上,将载物台调到最高,使激光照射到固体试样(4)上;此时,激光接收器(6)不能接收到激光,电流表示数为0;逐渐降低载物台的高度,直到电流表(8)恰好有示数时,记录此时螺旋测微器的刻度为L1;在载物台(2)上生成一个薄液膜,由于水的折射,此时激光接收器(6)接收不到激光,电流表(8)示数为0;继续降低载物台(2)高度,到电流表(8)刚好有示数时,记录此时螺旋测微器(3)的刻度为L2;薄液膜的厚度=L2-L1。
2.根据权利要求1所述的一种测试薄液膜厚度的装置,其特征在于:所述的激光发射器(9)发射的激光为波长在400-1060nm之间的单色光。
3.根据权利要求1所述的一种测试薄液膜厚度的装置,其特征在于:所述的激光接收器(6)接收的激光为波长在400-1060nm之间的与激光发射器(9)相同的单色光。
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