[发明专利]一种PCB背钻方法有效
申请号: | 201310220031.3 | 申请日: | 2013-06-04 |
公开(公告)号: | CN103302329A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 陈蓓;任小浪;曾志军 | 申请(专利权)人: | 广州兴森快捷电路科技有限公司 |
主分类号: | B23B35/00 | 分类号: | B23B35/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 谢伟;曾旻辉 |
地址: | 510663 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pcb 方法 | ||
1.一种PCB背钻方法,其特征在于,包括如下步骤:
将PCB定置在机台上,将钻针安装在钻机上;
选定目标层,确定目标层的实际控深深度h1;
钻机控制系统根据目标层的实际控深深度h1以及预设的stub的安全长度M,确定PCB的背钻控深深度h并控制钻针进行钻孔。
2.根据权利要求1所述的PCB背钻方法,其特征在于,所述stub的安全长度M应不小于钻机深度精度与PCB的制造工艺偏差值之和Mmin,并且应不大于S-Mmin,所述S为客户对stub精度要求的上限值,且S≥2Mmin。
3.根据权利要求2所述的PCB背钻方法,其特征在于,所述目标层的实际控深深度h1根据公式h1=K×〔Z2-Z1-Z0〕÷H0+d1+Z0得出,其中K为PCB背钻下钻面到目标层的理论深度,Z0为固定在PCB背钻下钻面的导电盖板的厚度,Z1为PCB下表面到机台的高度,Z2为PCB背钻下钻面对应的导电盖板上表面到机台的高度,H0为PCB的理论厚度,d1为钻针钻尖锥形高度与PCB电镀工艺的偏差值之和。
4.根据权利要求3所述的PCB背钻方法,其特征在于,所述背钻控深深度h根据公式h=K×〔Z2-Z1-Z0〕÷H0+d1+Z0-M得出。
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