[发明专利]一种简易式可调节X型光路平行调试检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及激光测量技术与应用领域，尤其涉及一种简易式可调节X型光路平行调试检测装置，该装置具有结构简单，易便携、易操作的特点。

背景技术

激光测距仪在现代武器控制系统中发挥着日益重要的作用，为保障给武器控制系统提供准确可靠的距离数据，要求激光测距仪的三光轴，即激光发射光轴、激光接收光轴、瞄准光轴，平行度误差尽可能小。而激光测距机在运输和野战条件下使用中，经常造成光轴失调。而光轴不平行必然影响测距机的测距能力，严重时不能测距。因此对激光测距机的光路进行平行校正非常重要。目前采用的校准方法多为凹面平面反射镜法、平行光管法，以及基于CCD图像处理技术的检验方法，这些方法相对来说，制作工艺复杂、检测成本高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种简易式可调节X型光路平行调试检测装置，其适用于多光路的平行调试和检测，尤其适用于检查和校正激光测距机的瞄准光轴和激光发射光轴的平行，进而提高测距机的测距能力。

本发明公开的简易式可调节X型光路平行调试检测装置，包括：

装置主体支架，用于固定和连接第一孔径光阑、第一平面反射镜与孔径光阑组合结构、第二孔径光阑，以及第二平面反射镜与孔径光阑组合结构；

第一待校准平行光路，其用于发射观察光束；

第一孔径光阑，其用于限制观察光束的光束口径；

第一平面反射镜与孔径光阑组合结构，其用于确定经第一孔径光阑的观察光束的传播路径，使其传播至第二平面反射镜与孔径光阑组合结构；

第二平面反射镜与孔径光阑组合结构，其用于确定从第一平面反射镜与孔径光阑组合结构传播过来的观察光束传播路径，使其进入第二孔径光阑；

第二孔径光阑，其用于限制从第二平面反射镜与孔径光阑组合结构传播过来的观察光束的光束口径；

第二待校准平行光路，其用于接收经第二孔径光阑的观察光束。

本发明公开的上述简易式可调节X型光路平行调试检测装置用于校正激光测距机中瞄准光轴和激光发射光轴之间的平行，解决了激光测距机在运输和野战条件下使用而造成的光轴失调的问题。其具有结构简单，易便携、易操作的特点。

附图说明

图1是本发明中简易式可调节X型光路平行调试检测装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明作进一步的详细说明。

在下面的说明中，提供许多具体的细节例如对光学元件的说明以便于对本发明实施例的全面了解。然而，本发明不仅适用于一个或多个具体的描述，且适用于其他参数和材料等。说明书下文中所列举的实施例是示意性的而非限制性的。

图1示出了本发明中简易式可调节X型光路平行调试检测装置的结构示意图。如图1所示，该装置包括装置主体支架1、第一孔径光阑2，第一平面反射镜与孔径光阑组合结构3、第二孔径光阑5，第二平面反射镜与孔径光阑组合结构4、第一待校准平行光路6，第二待校准平行光路7。其中，

所述装置主体支架1，用于固定和连接第一孔径光阑2、第一平面反射镜与孔径光阑组合结构3、第二孔径光阑5，以及第二平面反射镜与孔径光阑组合结构4；

所述的装置主体支架1呈X型，有四个等长的臂，且长度可精密调节。其四个臂长可调范围为1cm-5m。

相邻的臂的夹角依次为α、β、α、β，其中，α、β角度可调，α调节范围为0＜α＜π，β＝π-α且β调节范围为0＜β＜π。

所述的装置主体支架1的四个臂的末端依次连接有，第一孔径光阑2、第一平面反射镜与孔径光阑组合结构3的孔径光阑、第二平面反射镜与孔径光阑组合结构4的孔径光阑、第二孔径光阑5。

所述的装置主体支架1中心为O点，四个臂分别为OA₁、OA₂、OB₁、OB₂，且OA₁＝OA₂＝OB₁＝OB₂。这四个等长的臂上分别带有可调节伸缩装置，可以精密调节长短。

所述第一孔径光阑2，其用于限制观察光束的光束口径；