[发明专利]一种宽波段硅基探测器光谱响应的通用测试系统无效

专利信息
申请号: 201310221003.3 申请日: 2013-06-05
公开(公告)号: CN103257037A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 陶春先;何梁;张大伟;卢忠荣;洪瑞金;黄元申 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 波段 探测器 光谱 响应 通用 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种宽波段硅基探测器光谱响应的通用测试系统,其特征在于,包括光源、单色仪、透镜、衰减转轮、CCD驱动板、步进电机平台、暗室、步进驱动器、图像采集卡、工控机、皮安表、标准探测器、滤光片轮,光源与单色仪相连,单色仪进光口放置一套滤波片轮,单色仪出射狭缝后安装一组准直缩束石英透镜,在石英透镜后安装有一套能量衰减转轮,标准探测器和CCD驱动板固定在三维步进电机平台置于暗室中,标准探测器和CCD驱动板分别接收来自单色仪的光信号;步进电机平台使标准探测器与CCD驱动板可横向同轴切换,CCD驱动板的输出接图像采集卡,标准探测器的输出接皮安表相连,图像采集卡和皮安表输出的信号均送入工控机进行处理,工控机输出控制信号到步进驱动器、单色仪、衰减转轮。

2.根据权利要求1所述宽波段硅基探测器光谱响应的通用测试系统,其特征在于,所述光源为氘灯和氙灯两种组合光源或单个激光激励离子发光光源,波长范围190nm~1000nm。

3.根据权利要求1所述宽波段硅基探测器光谱响应的通用测试系统,其特征在于,所述单色仪为多光栅单色仪。

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