[发明专利]基于LED相对光谱随温度变化的结温测试装置及其方法

权利要求书

1.一种基于LED相对光谱随温度变化的结温测试装置，包括驱动电源（1）、恒温器（2）、灯座（3）、积分球仪（5）、光谱分析仪（6）和电脑（7），所述的光谱分析仪（6）的一端与积分球仪（5）相连，另一端与电脑（7）相连，所述的驱动电源（1）与灯座（3）相连，所述的灯座（3）的一侧与恒温器（2）相连，另一侧与积分球仪（5）相连，其特征在于：所述的积分球仪（5）与灯座（3）相连的一侧开设有用于引进待测LED（4）光线的小孔，另一侧开设有与光谱分析仪（6）上的探头相连接的小孔，所述的电脑（7）与驱动电源（1）相连。

2.根据权利要求1所述的基于LED相对光谱随温度变化的结温测试装置，其特征在于：所述的驱动电源（1）提供的电流为小于待测LED（4）额定电流5%的小电流。

3.一种基于LED相对光谱随温度变化的结温测试方法，其步骤为：

（1）将灯座（3）放置于恒温器（2）上，保持两者良好的热接触，将待测LED（4）安装于灯座（3）上，并保持良好的热接触和电接触，然后将光谱分析仪（6）的探头与积分球仪（5）的一侧连接，积分球仪（5）的另一侧与待测LED（4）相连，将光谱分析仪（6）的输出端与电脑（7）连接，将电脑（7）与驱动电源（1）连接，将驱动电源（1）与灯座（3）连接；

（2）步骤（1）结束后，设置恒温器（2）的温度，当待测LED（4）的温度达到设置的恒温器（2）的温度后，打开驱动电源（1）使待测LED（4）在小电流的驱动下发光，然后用光谱分析仪（6）检测待测LED（4）的相对光谱，即归一化光谱，并由电脑（7）记录上述相对光谱的检测结果；

（3）改变恒温器（2）的温度，重复步骤（2），得到不同恒温器（2）温度下的待测LED（4）的相对光谱，并由电脑（7）记录检测结果；

（4）步骤（3）结束后，选取恒温器（2）在25±1℃时，光谱分析仪（6）检测的小电流驱动下的相对光谱为参考相对光谱，其他不同恒温器（2）温度下的相对光谱与参考相对光谱之差的绝对值之和为结温表征参数；

（5）将恒温器（2）的温度作为待测LED（4）的结温，将恒温器（2）的温度以及对应的表征参数进行最小二乘法拟合，得出表征参数与待测LED（4）结温的关系公式；

（6）测量正常工作下的待测LED（4）的相对光谱，采用与步骤（4）相同的方法确定表征参数，最后利用步骤（5）得出的关系公式求出待测LED（4）的结温。

4.根据权利要求3所述的基于LED相对光谱随温度变化的结温测试方法，其特征在于：步骤（2）所述的小电流指小于待测LED（4）额定电流5%的电流。