[发明专利]校准距离测量装置的方法和系统有效
申请号: | 201310223768.0 | 申请日: | 2013-06-06 |
公开(公告)号: | CN103472439A | 公开(公告)日: | 2013-12-25 |
发明(设计)人: | 迈克尔·施图尔姆;沃尔克·弗赖;库尔特·斯坦戴克 | 申请(专利权)人: | 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40;G01S7/497;G01F23/284 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 关兆辉;谢丽娜 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 校准 距离 测量 装置 方法 系统 | ||
1.一种校准距离测量装置(2)的方法,其中所述距离测量装置(2)安装在距离测试场所(3)上,其中二维目标(4)被可移位地布置在所述距离测试场所(3)上,以反射由所述距离测量装置(2)发射的测量信号,其中借助所述距离测量装置(2)执行距离测量装置(2)和目标(4)之间的至少一个距离测量,以及其中将由所述距离测量装置(2)测定的距离测量值(dm)与基准值(dref)作比较,
其特征在于:
探测所述目标(4)的倾斜。
2.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于:
根据探测的倾斜修正所述距离测量值(dm)和/或所述基准值(dref)。
3.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于:
对于其中出现倾斜的情况,以消除所述目标(4)的倾斜的方式来修正所述目标(4)或所述距离测试场所(3)的定向。
4.根据上述权利要求中任一项所述的方法,
其特征在于:
无接触地确定所述基准值(dref)和/或所述倾斜。
5.根据权利要求4所述的方法,
其特征在于:
借助激光测量装置(5)确定所述基准值(dref)和/或所述倾斜。
6.根据上述权利要求中的一项或多项所述的方法,
其特征在于:
测量至少一个环境参数、并补偿所述环境参数对所述距离测量值(dm)和/或所述基准值(dref)的影响。
7.根据前述权利要求所述的方法,
其特征在于:
作为环境参数来测量温度、湿度和压力中的至少一个变量。
8.根据上述权利要求中的一项或多项所述的方法,
其特征在于:
连续探测所述基准值(dref)和/或所述倾斜。
9.根据上述权利要求中的一项或多项所述的方法,
其特征在于:
校准雷达料位测量装置(2)。
10.一种用于校准距离测量装置(2)的系统(1),所述系统至少包括:距离测试场所(3),可在所述距离测试场所(3)上安装所述距离测量装置(2);和二维目标(4),所述二维目标(4)可移位地布置在所述距离测试场所(3)上,用以将由所述距离测量装置(2)发射的测量信号反射回所述距离测量装置(2),使得能够借助所述距离测量装置(2)执行距离测量,以确定所述距离测量装置(2)和所述目标(4)之间的距离(d),
其特征在于:
所述系统(1)具有可安装在所述距离测试场所(3)上、用以探测所述目标(4)的倾斜的至少一个设备(5)。
11.根据权利要求10所述的系统,
其特征在于:
用于探测所述目标(4)的倾斜的所述设备(5)被实现为无接触地确定至少一个倾斜角度(a)。
12.根据权利要求11所述的系统,
其特征在于:
用于探测所述倾斜的所述设备(5)是激光跟踪仪。
13.根据权利要求10-12中的至少一项所述的系统,
其特征在于:
所述系统(1)包括用于借助所述距离测量装置(2)确定针对所述距离测量的基准值(dref)的装置(5)。
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