[发明专利]校准距离测量装置的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201310223768.0 申请日: 2013-06-06
公开(公告)号: CN103472439A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 迈克尔·施图尔姆;沃尔克·弗赖;库尔特·斯坦戴克 申请(专利权)人: 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40;G01S7/497;G01F23/284
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 关兆辉;谢丽娜
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 校准 距离 测量 装置 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种校准距离测量装置(2)的方法,其中所述距离测量装置(2)安装在距离测试场所(3)上,其中二维目标(4)被可移位地布置在所述距离测试场所(3)上,以反射由所述距离测量装置(2)发射的测量信号,其中借助所述距离测量装置(2)执行距离测量装置(2)和目标(4)之间的至少一个距离测量,以及其中将由所述距离测量装置(2)测定的距离测量值(dm)与基准值(dref)作比较,

其特征在于:

探测所述目标(4)的倾斜。

2.根据权利要求1所述的方法,

其特征在于:

根据探测的倾斜修正所述距离测量值(dm)和/或所述基准值(dref)。

3.根据权利要求1所述的方法,

其特征在于:

对于其中出现倾斜的情况,以消除所述目标(4)的倾斜的方式来修正所述目标(4)或所述距离测试场所(3)的定向。

4.根据上述权利要求中任一项所述的方法,

其特征在于:

无接触地确定所述基准值(dref)和/或所述倾斜。

5.根据权利要求4所述的方法,

其特征在于:

借助激光测量装置(5)确定所述基准值(dref)和/或所述倾斜。

6.根据上述权利要求中的一项或多项所述的方法,

其特征在于:

测量至少一个环境参数、并补偿所述环境参数对所述距离测量值(dm)和/或所述基准值(dref)的影响。

7.根据前述权利要求所述的方法,

其特征在于:

作为环境参数来测量温度、湿度和压力中的至少一个变量。

8.根据上述权利要求中的一项或多项所述的方法,

其特征在于:

连续探测所述基准值(dref)和/或所述倾斜。

9.根据上述权利要求中的一项或多项所述的方法,

其特征在于:

校准雷达料位测量装置(2)。

10.一种用于校准距离测量装置(2)的系统(1),所述系统至少包括:距离测试场所(3),可在所述距离测试场所(3)上安装所述距离测量装置(2);和二维目标(4),所述二维目标(4)可移位地布置在所述距离测试场所(3)上,用以将由所述距离测量装置(2)发射的测量信号反射回所述距离测量装置(2),使得能够借助所述距离测量装置(2)执行距离测量,以确定所述距离测量装置(2)和所述目标(4)之间的距离(d),

其特征在于:

所述系统(1)具有可安装在所述距离测试场所(3)上、用以探测所述目标(4)的倾斜的至少一个设备(5)。

11.根据权利要求10所述的系统,

其特征在于:

用于探测所述目标(4)的倾斜的所述设备(5)被实现为无接触地确定至少一个倾斜角度(a)。

12.根据权利要求11所述的系统,

其特征在于:

用于探测所述倾斜的所述设备(5)是激光跟踪仪。

13.根据权利要求10-12中的至少一项所述的系统,

其特征在于:

所述系统(1)包括用于借助所述距离测量装置(2)确定针对所述距离测量的基准值(dref)的装置(5)。

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