[发明专利]一种含致冷功能的微流芯片分析仪无效
申请号: | 201310232344.0 | 申请日: | 2013-06-09 |
公开(公告)号: | CN103275870A | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 刘威 | 申请(专利权)人: | 刘威 |
主分类号: | C12M1/38 | 分类号: | C12M1/38;C12M1/34 |
代理公司: | 北京市百伦律师事务所 11433 | 代理人: | 周红力;姜莹 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 致冷 功能 芯片 分析 | ||
1.一种微流芯片分析仪,包括:
毛细管电泳单元(200)、荧光检测单元(300)、信号处理单元(400)和致冷单元(100),
其中,所述致冷单元(100)与所述毛细管电泳单元(200)相连接,用于降低所述毛细管电泳单元(200)的温度;所述毛细管电泳单元(200)与所述荧光检测单元(300)相连接,并由其进行光学检测以获得光学测量信号;以及所述荧光检测单元(300)与所述信号处理单元(400)相连接,由其对所测量的信号进行信号处理。
2.根据权利要求1所述的微流芯片分析仪,其中,所述毛细管电泳单元(200)包括:可控高压输出电源(201)、电极(202)、电极夹具(203)、电极夹具旋转装置(204)和微流芯片(205)。
3.根据权利要求2所述的微流芯片分析仪,其中,
所述可控高压输出电源(201)与所述电极(202)相连接;
所述电极(202)设置在所述电极夹具(203)上;
所述电极夹具(203)设置在所述电极夹具旋转装置(204)上;
所述电极(202)与所述微流芯片(205)是可接触的。
4.根据权利要求1-3中任一所述的微流芯片分析仪,其中,
所述致冷单元(100)包括:温度控制电路(101)、温度传感器(102)、半导体致冷模块(103)、散热片(104)和散热风扇(105);
其中,所述温度控制电路(101)与所述温度传感器(102)相连接,用以采集所述微流芯片(205)的温度;所述温度控制电路(101)与所述半导体致冷模块(103)相连接并控制其制冷,从而控制所述微流芯片(205)的温度;
其中,所述温度控制电路设计成:在由温度传感器测量的温度低于设定的温度值或温度范围时,使得所述半导体致冷模块(103)停止制冷;以及在由温度传感器测量的温度高于设定的温度值或温度范围时,使得所述半导体致冷模块(103)继续制冷。
5.根据权利要求4所述的微流芯片分析仪,其中,
所述温度传感器(102)设置在所述半导体致冷模块(103)上;
所述半导体致冷模块(103)设置在所述散热片(104)上;以及
所述散热片(104)设置在所述散热风扇(105)上。
6.根据权利要求3所述的微流芯片分析仪,其中,所述温度传感器(102)为铂电阻温度传感器。
7.根据权利要求2所述的微流芯片分析仪,其中,
所述电极(202)包括直径为0.1~2mm的铂丝;
所述微流芯片(205)包括样品进样通道和样品分离通道,所述样品进样通道与所述样品分离通道呈十字交叉状。
8.根据权利要求1-7任一所述的微流芯片分析仪,其中所述荧光检测单元(300)包括:固体激光器(301)、平面反射镜(302)、半反半透镜(303)、物镜(304)、凸透镜(305)、针孔(306)、滤光片(307)和光电倍增管(308)。
9.根据权利要求8所述的微流芯片分析仪,其中,
所述固体激光器(301)产生的激光经过所述平面反射镜(302)、所述半反半透镜(303)和所述物镜(304)至所述微流芯片(205)后产生荧光;以及
所述荧光依次通过所述物镜(304)、所述半反半透镜(303)、所述凸透镜(305)、所述针孔(306)和所述滤光片(307)至所述光电倍增管(308)。
10.根据权利要求1-7任一所述的微流芯片分析仪,其中,所述信号处理单元(400)包括:
信号采集滤波放大和模数转换电路(401)和计算机的一部分或者整体(402),
其中,所述信号采集滤波放大和模数转换电路(401)与所述光电倍增管(308)连接;以及
所述信号采集滤波放大和模数转换电路(401)与所述计算机的一部分或者整体(402)相连接,以将采集处理的信号由所述计算机的一部分或者整体(402)处理并呈现在其上。
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