[发明专利]用于陷波滤波的装置和方法

说明书

技术领域

本发明的实施方案涉及电子装置，且更特定来说涉及陷波滤波器。

背景技术

放大器（诸如运算放大器）可包括帮助减小放大器的输入偏移电压的斩波器电路和陷波滤波器。例如，放大器可包括：第一斩波电路，其用来以斩波频率周期性地交换放大器的输入级的正输入与负输入或对其进行斩波；和第二斩波电路，其用来以斩波频率周期性地交换放大器的输入级的正输出与负输出或对其进行斩波。此外，陷波滤波器可用来通过使处于斩波频率的第二斩波电路的输出信号的频率分量衰减而生成陷波信号。此后，可放大陷波信号以生成放大器的输出信号。

第二斩波电路可进行操作以将放大器的输入级的输入偏移电压从DC上调到斩波频率，其中其可通过陷波滤波器衰减。由于输入信号的频率频谱可通过第一斩波电路上调和通过第二斩波电路下调，所以输入信号可经过陷波滤波而不会衰减。

虽然将放大器配置成包括斩波器电路和陷波滤波器可减小放大器的输入偏移电压，但是陷波滤波器中的失配误差可导致放大器具有偏移和/或放大器的输出信号具有以斩波频率和以其谐波的纹波。

需要具有改进性能的陷波滤波器。此外，需要具有减小的输入偏移电压和/或减小的输出电压纹波的斩波稳定放大器。

发明内容

在一个实施方案中，一种放大器包括：多个放大级，其被配置来放大差分输入电压信号以生成输出信号；斩波器块，其被配置来以斩波频率对与多个放大级相关的放大的差分信号进行斩波以生成斩波信号；和陷波滤波器，其被配置来以斩波频率使斩波信号衰减以生成陷波信号。陷波滤波器包括：第一有限脉冲响应（FIR）滤波器，其被配置来对斩波信号进行采样以生成第一多个样本作为输出；第二FIR滤波器，其被配置来对斩波信号进行采样以生成第二多个样本作为输出；和无限脉冲响应（IIR）滤波器，其被配置来通过至少部分对第一FIR滤波器的输出和第二FIR滤波器的输出求积分而生成陷波信号。第一多个样本的至少一部分相对于第二多个样本是时间交错的。

在另一实施方案中，一种陷波滤波器包括：第一FIR滤波器，其被配置来周期性地对输入信号进行采样以生成第一多个样本作为输出；第二FIR滤波器，其被配置来周期性地对输入信号进行采样以生成第二多个样本作为输出；和IIR滤波器，其被配置来通过至少部分对第一FIR滤波器的输出和第二FIR滤波器的输出求积分而生成输出信号。第一多个样本的至少一部分相对于第二多个样本是时间交错的

在另一实施方案中，提供了一种滤波方法。所述方法包括：使用第一FIR滤波器生成输入信号的第一多个样本；使用第二FIR滤波器生成输入信号的第二多个样本；在第一时钟信号阶段期间对第一多个样本求平均以生成第一平均样本；在第一时钟信号阶段期间将第一平均样本积分到IIR滤波器的积分电容器上；在第二时钟信号阶段期间对第二多个样本求平均以生成第二平均样本；和在第二时钟信号阶段期间将第二平均样本积分到积分电容器上。第一多个样本的至少一部分相对于第二多个样本是时间交错的。

附图说明

图1是示出了放大器的一个实施方案的示意方框图。

图2A是示出了陷波滤波器的一个实施方案的示意方框图。

图2B是示出了陷波滤波器的另一实施方案的示意方框图。

图3A是示出了陷波滤波器的一个实施方案的电路图。

图3B是示出了图3A的陷波滤波器的时序图的一个实例的图。

图4A至4D是示出了放大器的各个实施方案的示意方框图。

图5A是陷波滤波器的另一实施方案的示意方框图。

图5B是陷波滤波器的另一实施方案的示意方框图。

图6是图5A的陷波滤波器的一个实例的振幅对频率的图。

具体实施方式

特定实施方案的下文详述呈现了本发明的特定实施方案的不同描述。然而，本发明可按与权利要求书定义和涵盖的方式不同的多种方式具体实施。在本描述中，参考其中类似参考数字指示相同或功能类似元件的附图。