[发明专利]一种耐离子迁移性能优劣的评价方法在审
| 申请号： | 201310234191.3 | 申请日： | 2013-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN103323505A | 公开（公告）日： | 2013-09-25 |
| 发明（设计）人： | 叶锦荣;林振生;李远 | 申请（专利权）人： | 广东生益科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/26 | 分类号： | G01N27/26 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 巩克栋 |
| 地址： | 523808 广东省东莞市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 离子 迁移 性能 优劣 评价 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种耐离子迁移性能优劣的评价方法，其特征在于，所述方法通过采用HAST测试，并调节HAST测试温度低于待测试材料Tg15～20℃来实现。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，调节HAST测试温度低于待测试材料Tg15或20℃。
3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述待测试材料的Tg为120～140℃，优选125～140℃，进一步优选125～135℃。
4.如权利要求1-3之一所述的方法，其特征在于，所述待测试材料为Tg为120～140℃的FR-4材料，优选Tg为125～140℃的FR-4材料，进一步优选Tg为125～135℃的FR-4材料。
5.如权利要求1-3之一所述的方法，其特征在于，所述待测试材料为Tg为120～140℃的CEM-3材料，优选Tg为125～140℃的CEM-3材料，进一步优选Tg为125～135℃的CEM-3材料。
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