[发明专利]一种航空高光谱成像系统定位误差分析方法有效
申请号: | 201310237669.8 | 申请日: | 2013-06-17 |
公开(公告)号: | CN103344252A | 公开(公告)日: | 2013-10-09 |
发明(设计)人: | 赵慧洁;李娜;姜宇 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 航空 光谱 成像 系统 定位 误差 分析 方法 | ||
1.一种航空高光谱成像系统定位误差分析方法,其特征在于:它包含以下步骤:
(1)高光谱图像信息、姿态位置测量系统数据读入;
(2)根据几何成像物理关系建立共线条件方程;
(3)分析姿态位置测量系统测角误差、全球定位系统定位误差和成像光谱仪标定误差,对每个误差源进行建模;
(4)利用步骤(3)得到的误差源分析模型,对步骤(2)所建立的共线条件方程进行一阶泰勒展开,建立误差传递方程;
(5)计算步骤(4)所建立的误差传递方程的外方位元素误差传递矩阵;
(6)基于协方差传播律,建立由步骤(4)和步骤(5)确定的姿态位置参数协方差矩阵;
(7)根据步骤(6)建立的协方差矩阵计算定位误差。
2.根据权利要求1所述的一种航空高光谱成像系统定位误差分析方法,其特征在于:步骤(2)中所述的根据几何成像物理过程建立的共线条件方程为:
式中,Xp,Yp,Zp表示待求地面点在地辅坐标系中的位置参数;Xs,Ys,Zs表示当前扫描行中心像元在地辅坐标系中的位置参数;λ表示在地辅坐标系中像平面内任一点与地面对应点的比例关系;u,v,w表示探测器上当前待求像元在像空间坐标系中的位置参数;表示像空间坐标系(i系)到地辅坐标系( m系)的旋转矩阵,可以表示为其中表示地心坐标系(E系)到地辅坐标系(m系)的旋转矩阵,表示导航坐标系(g系)到地心坐标系(E系)的旋转矩阵,表示惯性测量单元坐标系(b系)到导航坐标系(g系)的旋转矩阵,表示传感器坐标系(c系)到惯性测量单元坐标系(b系)的旋转矩阵,表示像空间坐标系(i系)到传感器坐标系(c系)的旋转矩阵。
3.根据权利要求1所述的一种航空高光谱成像系统定位误差分析方法,其特征在于:步骤(3)中所述的分析姿态位置测量系统测角误差、全球定位系统定位误差和成像光谱仪标定误差,对每个误差源进行建模的方法如下:
姿态位置测量系统的测角误差由陀螺仪所固有的漂移误差产生,其模型为ε=εb+εr+εg,ε为姿态位置测量系统的测角误差,εb=[εbx εby εbz]T为测角误差中的常值误差,εr=[εrx εry εrz]T为测角误差中的漂移误差,εg为测角误差中的白噪声。在实际应用中,姿态位置测量系统在技术参数中给出测角精度,该精度的数值在计算过程中已经考虑了陀螺仪漂移误差的影响,因此可以直接应用测角精度进行计算,即:
式中,表示滚转轴、俯仰轴、航向轴的测角误差,表示三个轴所对应的常值误差,表示三个轴所对应的漂移误差,t表示姿态位置测量系统所记录的航摄时间;
全球定位系统的定位误差在短时间的航摄飞行中随航摄时间t线性变化,该定位误差可以采用下述线性模型进行拟合:
式中,[ΔXS ΔYS ΔZS]T表示地面点在地辅坐标系内由全球定位系统测量而产生的定位误差,[aX aY aZ]T表示定位误差中的常值误差,[bX bY bZ]T表示定位误差中的漂移误差,L表示t时刻内所飞过的路程,设t时刻的飞行速度为vt,Δt为前后两个时刻的间隔,t0为航摄飞行的初始时刻,T为航摄飞行的终止时刻,则有
成像光谱仪的标定误差由实验室定标获得,该误差可以表示为:
εc=[Δu Δv Δw]T
式中,εc表示成像光谱仪标定误差,Δu、Δv表示成像光谱仪探测器中当前像元的切向标定误差,Δw表示成像光谱仪探测器中当前像元的径向标定误差。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310237669.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。