[发明专利]一种深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法

权利要求书

1.一种深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法，其特征在于包括以下步骤： 

第一步、取待检深孔环形件之一作为校验样件，在对应深孔环形件中部的位置进行切割，形成穿透环形件的缺口，并获得与所述缺口相配的镶块；

第二步、通过所述缺口将磁粉检测灵敏度试片粘贴在适宜观察试片磁粉表面状态的环形件内壁处，再将镶块嵌在深孔环形件的缺口处固定；

第三步、对固定好镶块的深孔环形件进行喷淋磁化，再将镶块取下，通过观察环形件内壁的磁粉检测灵敏度试片显示，判定深孔环形件内壁的磁粉检测系统灵敏度是否满足要求。

2.根据权利要求1所述的深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法，其特征在于：所述缺口为轴向截面呈规则几何形状的缺口。

3.根据权利要求2所述的深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法，其特征在于：形成缺口后，加工出截面与所述缺口相配且具有与深孔切除部分相配圆弧凹槽的镶块。

4.根据权利要求2或3所述的深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法，其特征在于：所述缺口为T形缺口，所述镶块为截面与T形缺口相配的T形镶块。

5.根据权利要求4所述的深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法，其特征在于：所述T形镶块宽边的最大高度小于深孔环形件的壁厚。

6.根据权利要求5所述的深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法，其特征在于：所述T形镶块宽边和窄边的高度总和小于深孔环形件的外径的一半。

7.根据权利要求6所述的深孔环形件内壁磁粉检测系统灵敏度校验方法，其特征在于：所述T形缺口和T形镶块的宽边两侧表面相对形成V形倾斜。