[发明专利]分光光度计高吸光度测量方法有效
申请号: | 201310245247.5 | 申请日: | 2013-06-19 |
公开(公告)号: | CN103335965A | 公开(公告)日: | 2013-10-02 |
发明(设计)人: | 俞霆;随东丽;卞滨 | 申请(专利权)人: | 上海天美科学仪器有限公司 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 张坚 |
地址: | 201612 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分光 光度计 光度 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种分光光度计高吸光度测量方法。
背景技术
分光光度法是通过测定被测物质在特定波长处或一定波长范围内光的吸收度,从而对该物质进行定性和定量分析。分光光度计采用具有连续波长的光源,通过一系列分光装置,从而产生特定波长的单色光源,单色光透过测试的样品后,有部分光被样品吸收,计算样品的吸光值,从而转化成样品的浓度。样品的吸光值与样品的浓度成正比。
样品对光的吸光度等于样品透射光强度比入射光强度的对数。高浓度样品的吸光度通常在2A以上,即样品透射光强度为入射光强度的1%以下。在对高浓度样品的吸光度进行测量时,由于用于检测的器件量程动态范围有限,以及检测器、放大器本身存在噪声,使得检出的信号量与噪声相当,从而容易造成测量误差。
发明内容
为此,本发明所要解决的技术问题是提供一种能提高测量准确性的分光光度计高吸光度测量方法,以克服现有技术存在的不足。
为解决上述技术问题,本发明采用如下的技术方案:
一种分光光度计高吸光度测量方法,具体步骤包括:
步骤1:使用脉冲灯作为光源,检测电路为积分保持采样电路,监测电路用来测量监测光强度,在不放置样品时,灯先闪烁一次,测量灯的监测光强度及透射光强度,计算入射光强度与监测光强度的比例数值K;
步骤2:将样品放入,灯闪烁一次,测量入射光强度和透射光强度,并计算样品的吸光度;
步骤3:当步骤2的样品吸光度超过1.6A时,将测量积分器的积分时间延长至原来的N倍,连续将灯闪烁N次,N大于1,测量N次的监测光强度I监,灯N次闪烁后测量一次透射光强度I样;
步骤4:根据公式
计算样品的吸光度。
进一步地,所述步骤3的N为10。
上述脉冲灯为脉冲疝灯,使用脉冲氙灯作为入射光源,检测电路用来检测入射光透过样品后的透射光强度,检测电路通常都是积分保持采样电路。由于氙灯每次闪烁的能量会有变化,通常在仪器中都设立了监测电路,监测电路用来测量监测光的强度。
监测光强度I监始终和入射光强度I0呈比例关系,其公式为I0=K I监。对于具体的仪器来说,K的数值是固定的。因此,在对样品进行检测时,只要通过监测电路测得I监,再乘以K,就可以得出每次入射光强度的数值I0。
因此,在对样品进行检测前,需要先测量出K的数值。在不放样品时,检测电路测得的透射光强度I检的数值与该次入射光强度I0的数值是一致的,即不放样品时,I检=I0。同时,测得该次监测光强度I监,通过公式
即可测得K的数值。
确定K的数值后,在对样品进行检测时,只要通过测量监测光强度I监,通过公式I0=K I监就可以计算出入射光强度I0。
对样品测量时,样品吸光度A的计算公式为:
式中:
A为吸光度;
I0为入射光强度;
I样为透过样品的透射光强度;
T为样品物质的透射率;
ε为样品摩尔吸收系数;
L为被测样品的光程,即比色皿的厚度;
C为样品的浓度。
对样品测量时,透过样品的透射光强度I样的数值,可以通过检测电路测得。通过监测电路测得I监后,根据公式I0=K I监即可算出入射光强度I0。
将样品放置好,氙灯闪烁一次,测量入射光强度I0和透射光强度I样,并根据上述公式计算样品的吸光度A。
当样品吸光度很高时(比如,吸光度超过1.6A),则进入高吸光度测量模式。
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