[发明专利]LED加速老化试验最佳测试温度的确定方法有效
申请号: | 201310246505.1 | 申请日: | 2013-06-20 |
公开(公告)号: | CN103293461A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
发明(设计)人: | 姜振超;舒勤;顾益双;黄宏光;杨书佺 | 申请(专利权)人: | 四川电力科学研究院;四川大学 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01K11/00 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 梁田 |
地址: | 610000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | led 加速 老化试验 最佳 测试 温度 确定 方法 | ||
1.LED加速寿命试验最佳测试温度的确定方法,其特征在于,包括以下步骤:
(A)实施光模块变温实验,测量并得到工作电流与温度的关系曲线,并拟合成数学函数;
(B)得到使加速因子取最大值的测试温度满足的方程;
(C)将步骤(A)得到的数学函数带入步骤(B)给出的方程,得到最佳测试温度和相应的测试时间。
2.根据权利要求1所述LED加速寿命试验最佳测试温度的确定方法,其特征在于,所述步骤(A)包括以下步骤:
(A1)选取样品,对同一批次的SFP光模块进行随机抽样,样品数量不少于8个;
(A2)对步骤(A1)抽取的样品实施变温实验,利用光模块性能测试装置采集样本中LED器件的工作电流;
(A3)多次重复步骤(A2)所述变温实验,整理数据得到工作电流与温度的关系曲线,并拟合成数学函数,用以下分段函数表示:
其中,If为工作电流, Tj为任意加速温度对应的结温,α为最大工作电流,T1为第一个过零点对应的结温,T2为工作电流上升终点对应的结温,T3为工作电流下降起点对应的结温,T4为第二个过零点对应的结温,α>0,且。
3.根据权利要求2所述LED加速寿命试验最佳测试温度的确定方法,其特征在于,所述步骤(B)包括以下步骤:
(B1)根据步骤(A3)测量得到的工作电流与温度变化的曲线,加速因子的计算公式变为:
上式中,为加速因子,表示正常工作温度条件下PN结的结温;表示加速温度条件下PN结的结温,表示正常工作温度条件下的电流;表示加速温度条件下的电流;
(B2)利用加速因子τ对求导数,并令结果为零,得到最佳测试温度方程:
该式中,k为波耳兹曼常数,为激活能, If为工作电流。
4.根据权利要求3所述LED加速寿命试验最佳测试温度的确定方法,其特征在于,所述步骤(C)包括以下步骤:
(C1)将步骤(A3)得到的函数求解一阶导数,其值为工作电流与温度的关系曲线的斜率,在之间时,曲线的斜率为正数;在之间时,曲线的斜率为零;在之间时,曲线的斜率为负数;
(C2)将步骤(C1)获得的斜率带入步骤(B2)得到的最佳测试温度方程,并求解,当在之间时,方程无解;当在之间取值时,;
(C3)确定最佳测试温度,当时,不在之间时,最佳测试温度为;当时,且在之间时,最佳测试温度为。
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